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Testmöglichkeiten für LSI-Schaltkreise/ Testing LSI components
Ausgehend von den in der Literatur erwähnten Ansätzen zum Testen von LSI-Schaltkreisen werden die Probleme und Möglichkeiten diskutiert. Dabei steht die neuere Entwicklung im Vordergrund, daß nicht mehr generell auf die interne Schaltungsstruktur zurückgegriffen werden kann, sondern vielfach auf funktionelle Testansätze ausgewichen werden muß. Für den Mikroprozessor 8080 wird gezeigt, wie ein solches Funktionstestprogramm entwickelt werden kann. Für Speicherbausteine werden ebenfalls funktionelle Testfolgen verwendet, die jedoch ein Überprüfen auf Darenmusterempfindlichkeit zum Ziel haben.
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