{"title":"设计公平,再测试高集成电路","authors":"H. Wunderlich, Mike Schulz","doi":"10.18419/opus-7897","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Der Beitrag gibt einen Uberblick uber die wichtigsten praxisrelevanten Teststrategien, wobei unter einer Teststrategie nicht nur die Verfahren zur Testsatzerzeugung und zur eigentlichen Testdurchfuhrung, sondern auch das zugrunde liegende Fehlermodell und die erforderlichen testfreundlichen Entwurfsmasnahmen, die die Voraussetzung fur die Anwendung dieser Verfahren darstellen, zu verstehen sind. Es werden die gangigsten Methoden zum konventionellen externen Test vorgestellt und bewertet sowie das Prinzip der immer breitere Anwendung findenden Selbsttestmethoden und ihre Vorteile erlautert. Nach einem kurzen Ausblick auf die Fortschritte, die Verfahren zur automatischen Synthese testbarer Schaltungen erhoffen lassen, werden schlieslich Aspekte des Systemtests und insbesondere das Boundary-Scan-Prinzip und die damit verbundenen Vorteile diskutiert.","PeriodicalId":127076,"journal":{"name":"Inform. Spektrum","volume":"52 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"1900-01-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen\",\"authors\":\"H. Wunderlich, Mike Schulz\",\"doi\":\"10.18419/opus-7897\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Der Beitrag gibt einen Uberblick uber die wichtigsten praxisrelevanten Teststrategien, wobei unter einer Teststrategie nicht nur die Verfahren zur Testsatzerzeugung und zur eigentlichen Testdurchfuhrung, sondern auch das zugrunde liegende Fehlermodell und die erforderlichen testfreundlichen Entwurfsmasnahmen, die die Voraussetzung fur die Anwendung dieser Verfahren darstellen, zu verstehen sind. Es werden die gangigsten Methoden zum konventionellen externen Test vorgestellt und bewertet sowie das Prinzip der immer breitere Anwendung findenden Selbsttestmethoden und ihre Vorteile erlautert. Nach einem kurzen Ausblick auf die Fortschritte, die Verfahren zur automatischen Synthese testbarer Schaltungen erhoffen lassen, werden schlieslich Aspekte des Systemtests und insbesondere das Boundary-Scan-Prinzip und die damit verbundenen Vorteile diskutiert.\",\"PeriodicalId\":127076,\"journal\":{\"name\":\"Inform. Spektrum\",\"volume\":\"52 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"1900-01-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Inform. Spektrum\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.18419/opus-7897\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Inform. Spektrum","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.18419/opus-7897","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen
Der Beitrag gibt einen Uberblick uber die wichtigsten praxisrelevanten Teststrategien, wobei unter einer Teststrategie nicht nur die Verfahren zur Testsatzerzeugung und zur eigentlichen Testdurchfuhrung, sondern auch das zugrunde liegende Fehlermodell und die erforderlichen testfreundlichen Entwurfsmasnahmen, die die Voraussetzung fur die Anwendung dieser Verfahren darstellen, zu verstehen sind. Es werden die gangigsten Methoden zum konventionellen externen Test vorgestellt und bewertet sowie das Prinzip der immer breitere Anwendung findenden Selbsttestmethoden und ihre Vorteile erlautert. Nach einem kurzen Ausblick auf die Fortschritte, die Verfahren zur automatischen Synthese testbarer Schaltungen erhoffen lassen, werden schlieslich Aspekte des Systemtests und insbesondere das Boundary-Scan-Prinzip und die damit verbundenen Vorteile diskutiert.