{"title":"平面平行唱片测定方法(在平面平行唱片基础上的微扫描调整方法的补充)","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-176","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Настройка микросканера (МС) на базе плоскопараллельной пластинки (ППС) требует учёта\nклиновидности. Вклад в смещение проекции внешней сцены паразитным оптическим клином, может\nоказаться больше чем вклад, который могла бы дать идеальная плоскопараллельная пластинка при\nпрочих равных условиях. Значение сдвига вносимого клином зависит от точности изготовления ППС.\nЕсли производитель и уложился в допуски при производстве пластинки, итоговое значение\nклиновидности каждого германиевого стекла необходимо считать отдельно не сводя клиновидность к\nпогрешности расчётов. Как показал опыт настройки, клиновидность ППС модно считать\nпогрешностью, в пределах 5%, при смещении проекции до 100 мкм, если клиновидность стекла\nсоставляет менее 10 секунд. Технологически изготовить такое изделие может не каждое\nспециализированное оборудование. Именно по этой причине определение клиновидности\nнеобходимо рассматривать как отдельную процедуру. В видимом диапазоне волнового спектра, для\nопределения угла клиновидности ППС, используется интерференционные методы. В ИК диапазоне,\nпрактически доступных, эффективных методов нет.\nПредлагается методика определения угла клина германиевой пластинки. Привлекательность\nметода состоит в простоте процедур измерения и доступности оборудования.\n\n\n Рис.1\nИзмерительный стенд схематично изображен на рис.1. В его состав входят: диодный лазер; экран\nдля фиксации положения следа луча; подложка из оконного стекла; германиевая пластинка; рулетка\nдля замера расстояния от экрана до середины германиевого стекла.\nВсе вычисления проводятся в отражённом свете. На устойчивую поверхность горизонтально\nустанавливается подложка (степень горизонтальности не критична). На подложку кладётся\nгерманиевая пластинка и обводится маркером. Направив в середину ППС луч лазера (точка А), на\nэкране получим след. Вращение германиевой пластинки, без выхода за отмеченную маркером\nграницу, приводит к колебанию следа лазера из самого высокой точки 1 в самую низкую точку 2 и\nобратно. Замерим расстояние АВ (порядка 10 метров) и интервал между точками 1 и 2. Допустим, что\nтреугольник АВС прямоугольный. После проведения несложных преобразований угол\nклиновидности θ будет равен:\n𝜃 =\n1\n4\n𝑎𝑟𝑐𝑡𝑔\n𝐶В\nАВ\nМетод позволяет получить приемлемую точность при его использовании в рамках методики\nнастройки микросканера. Относительная погрешность в смещении проекции сцены, при\nиспользовании данных о клине полученных изложенным методом, не превышает 10 %.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"291 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Методика определения клиновидности плоскопараллельной пластинки (в дополнение\\nк методике настройки микросканера на базе плоскопараллельной пластинки)\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-176\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Настройка микросканера (МС) на базе плоскопараллельной пластинки (ППС) требует учёта\\nклиновидности. Вклад в смещение проекции внешней сцены паразитным оптическим клином, может\\nоказаться больше чем вклад, который могла бы дать идеальная плоскопараллельная пластинка при\\nпрочих равных условиях. Значение сдвига вносимого клином зависит от точности изготовления ППС.\\nЕсли производитель и уложился в допуски при производстве пластинки, итоговое значение\\nклиновидности каждого германиевого стекла необходимо считать отдельно не сводя клиновидность к\\nпогрешности расчётов. Как показал опыт настройки, клиновидность ППС модно считать\\nпогрешностью, в пределах 5%, при смещении проекции до 100 мкм, если клиновидность стекла\\nсоставляет менее 10 секунд. Технологически изготовить такое изделие может не каждое\\nспециализированное оборудование. Именно по этой причине определение клиновидности\\nнеобходимо рассматривать как отдельную процедуру. В видимом диапазоне волнового спектра, для\\nопределения угла клиновидности ППС, используется интерференционные методы. В ИК диапазоне,\\nпрактически доступных, эффективных методов нет.\\nПредлагается методика определения угла клина германиевой пластинки. Привлекательность\\nметода состоит в простоте процедур измерения и доступности оборудования.\\n\\n\\n Рис.1\\nИзмерительный стенд схематично изображен на рис.1. В его состав входят: диодный лазер; экран\\nдля фиксации положения следа луча; подложка из оконного стекла; германиевая пластинка; рулетка\\nдля замера расстояния от экрана до середины германиевого стекла.\\nВсе вычисления проводятся в отражённом свете. На устойчивую поверхность горизонтально\\nустанавливается подложка (степень горизонтальности не критична). На подложку кладётся\\nгерманиевая пластинка и обводится маркером. Направив в середину ППС луч лазера (точка А), на\\nэкране получим след. Вращение германиевой пластинки, без выхода за отмеченную маркером\\nграницу, приводит к колебанию следа лазера из самого высокой точки 1 в самую низкую точку 2 и\\nобратно. Замерим расстояние АВ (порядка 10 метров) и интервал между точками 1 и 2. Допустим, что\\nтреугольник АВС прямоугольный. После проведения несложных преобразований угол\\nклиновидности θ будет равен:\\n𝜃 =\\n1\\n4\\n𝑎𝑟𝑐𝑡𝑔\\n𝐶В\\nАВ\\nМетод позволяет получить приемлемую точность при его использовании в рамках методики\\nнастройки микросканера. Относительная погрешность в смещении проекции сцены, при\\nиспользовании данных о клине полученных изложенным методом, не превышает 10 %.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"291 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-176\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-176","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Методика определения клиновидности плоскопараллельной пластинки (в дополнение
к методике настройки микросканера на базе плоскопараллельной пластинки)
Настройка микросканера (МС) на базе плоскопараллельной пластинки (ППС) требует учёта
клиновидности. Вклад в смещение проекции внешней сцены паразитным оптическим клином, может
оказаться больше чем вклад, который могла бы дать идеальная плоскопараллельная пластинка при
прочих равных условиях. Значение сдвига вносимого клином зависит от точности изготовления ППС.
Если производитель и уложился в допуски при производстве пластинки, итоговое значение
клиновидности каждого германиевого стекла необходимо считать отдельно не сводя клиновидность к
погрешности расчётов. Как показал опыт настройки, клиновидность ППС модно считать
погрешностью, в пределах 5%, при смещении проекции до 100 мкм, если клиновидность стекла
составляет менее 10 секунд. Технологически изготовить такое изделие может не каждое
специализированное оборудование. Именно по этой причине определение клиновидности
необходимо рассматривать как отдельную процедуру. В видимом диапазоне волнового спектра, для
определения угла клиновидности ППС, используется интерференционные методы. В ИК диапазоне,
практически доступных, эффективных методов нет.
Предлагается методика определения угла клина германиевой пластинки. Привлекательность
метода состоит в простоте процедур измерения и доступности оборудования.
Рис.1
Измерительный стенд схематично изображен на рис.1. В его состав входят: диодный лазер; экран
для фиксации положения следа луча; подложка из оконного стекла; германиевая пластинка; рулетка
для замера расстояния от экрана до середины германиевого стекла.
Все вычисления проводятся в отражённом свете. На устойчивую поверхность горизонтально
устанавливается подложка (степень горизонтальности не критична). На подложку кладётся
германиевая пластинка и обводится маркером. Направив в середину ППС луч лазера (точка А), на
экране получим след. Вращение германиевой пластинки, без выхода за отмеченную маркером
границу, приводит к колебанию следа лазера из самого высокой точки 1 в самую низкую точку 2 и
обратно. Замерим расстояние АВ (порядка 10 метров) и интервал между точками 1 и 2. Допустим, что
треугольник АВС прямоугольный. После проведения несложных преобразований угол
клиновидности θ будет равен:
𝜃 =
1
4
𝑎𝑟𝑐𝑡𝑔
𝐶В
АВ
Метод позволяет получить приемлемую точность при его использовании в рамках методики
настройки микросканера. Относительная погрешность в смещении проекции сцены, при
использовании данных о клине полученных изложенным методом, не превышает 10 %.