{"title":"表面对Pb1-xSnxTe光电传导的影响:合成器为0.28。","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-64","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Фоточувствительность плёнок Pb1-xSnxTe:In с х0,3 (кр. 46мкм) в ИК области определяется как\nфундаментальным поглощением [1], так и наличием локализованных состояний в запрещённой зоне\n[2, 3], что позволяет продвинуться в более длинноволновую область спектра. При создании\nфотоприёмных структур на основе тонких плёнок большое значение имеет определение влияния\nповерхности на фоточувствительность при различных химических и технологических обработках\nповерхности.\nПри Т = 4,2 К были исследованы легированные In эпитаксиальные слои Pb1-xSnxTe/BaF2 с составом\n0,28 ≤ х ≤ 0,32 (толщиной d ≈ 1 мкм) и концентрацией In (0,5 – 3) ат. %, которые при Т < 20 K имеют\nнизкую проводимость, сравнимую с диалектиками. Источником освещения служили светодиодом с λ\n= 0,63 мкм и абсолютно чёрное тело. Химическая обработка поверхности проводилась в растворе\nизопропилового спирта, насыщенного парами соляной кислоты. Картины дифракции быстрых\nэлектронов (ДБЭ) были получены в камере МЛЭ «Катунь» при давлении Р = 2∙10-6 Па. Физикохимическое состояние поверхности исследовалось методом рентгеновской фотоэлектронной\nспектроскопии (РФЭС). Картины ДБЭ и спектры РФЭС были получены для исходной поверхности,\nпосле отжига до температуры ~ 350 °С, после обработки в травителе, а также при последовательной\nобработке в травителе и отжиге в вакууме до температуры ~ 350 °С.\nОбнаружено, что обработка поверхности сильно влияет на вольтамперные характеристики (ВАХ)\nи временные зависимости фототока. Наблюдалось возрастание темнового тока до 105\nраз при\nнапряжении смещения 1 В. Величина фототока\nтакже возрастала. Качественно и количественно\nизменялись временные зависимости фототока.\nПри выдержке образцов на воздухе в течение\nнескольких дней ВАХ-и и временные\nзависимости тока возвращались к значениям до\nобработки поверхности. На рисунке\nпредставлены временные зависимости фототока\nдо (1), сразу после химической обработки\nповерхности (2), через двое (3), трое (4) и пять\n(5) суток и характерные постоянные времени\nнарастания фототока. Стрелкой показан момент\nвключения освещения.\nРезультаты измерений сопоставлены с\nданными РФЭС по составу поверхности плёнок\nв зависимости от её обработки.\nПоказано, что изменения фотопроводимости могут быть обусловлены изменением состояния\nповерхности, вызванного удалением собственного окисла и нарушением стехиометрии состава\nвблизи поверхности.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"10 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Влияние поверхности на фотопроводимость плёнок Pb1-xSnxTe:In\\nс составом 0,28 ≤ х ≤ 0,32\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-64\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Фоточувствительность плёнок Pb1-xSnxTe:In с х0,3 (кр. 46мкм) в ИК области определяется как\\nфундаментальным поглощением [1], так и наличием локализованных состояний в запрещённой зоне\\n[2, 3], что позволяет продвинуться в более длинноволновую область спектра. При создании\\nфотоприёмных структур на основе тонких плёнок большое значение имеет определение влияния\\nповерхности на фоточувствительность при различных химических и технологических обработках\\nповерхности.\\nПри Т = 4,2 К были исследованы легированные In эпитаксиальные слои Pb1-xSnxTe/BaF2 с составом\\n0,28 ≤ х ≤ 0,32 (толщиной d ≈ 1 мкм) и концентрацией In (0,5 – 3) ат. %, которые при Т < 20 K имеют\\nнизкую проводимость, сравнимую с диалектиками. Источником освещения служили светодиодом с λ\\n= 0,63 мкм и абсолютно чёрное тело. Химическая обработка поверхности проводилась в растворе\\nизопропилового спирта, насыщенного парами соляной кислоты. Картины дифракции быстрых\\nэлектронов (ДБЭ) были получены в камере МЛЭ «Катунь» при давлении Р = 2∙10-6 Па. Физикохимическое состояние поверхности исследовалось методом рентгеновской фотоэлектронной\\nспектроскопии (РФЭС). Картины ДБЭ и спектры РФЭС были получены для исходной поверхности,\\nпосле отжига до температуры ~ 350 °С, после обработки в травителе, а также при последовательной\\nобработке в травителе и отжиге в вакууме до температуры ~ 350 °С.\\nОбнаружено, что обработка поверхности сильно влияет на вольтамперные характеристики (ВАХ)\\nи временные зависимости фототока. Наблюдалось возрастание темнового тока до 105\\nраз при\\nнапряжении смещения 1 В. Величина фототока\\nтакже возрастала. Качественно и количественно\\nизменялись временные зависимости фототока.\\nПри выдержке образцов на воздухе в течение\\nнескольких дней ВАХ-и и временные\\nзависимости тока возвращались к значениям до\\nобработки поверхности. На рисунке\\nпредставлены временные зависимости фототока\\nдо (1), сразу после химической обработки\\nповерхности (2), через двое (3), трое (4) и пять\\n(5) суток и характерные постоянные времени\\nнарастания фототока. Стрелкой показан момент\\nвключения освещения.\\nРезультаты измерений сопоставлены с\\nданными РФЭС по составу поверхности плёнок\\nв зависимости от её обработки.\\nПоказано, что изменения фотопроводимости могут быть обусловлены изменением состояния\\nповерхности, вызванного удалением собственного окисла и нарушением стехиометрии состава\\nвблизи поверхности.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"10 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-64\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-64","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Влияние поверхности на фотопроводимость плёнок Pb1-xSnxTe:In
с составом 0,28 ≤ х ≤ 0,32
Фоточувствительность плёнок Pb1-xSnxTe:In с х0,3 (кр. 46мкм) в ИК области определяется как
фундаментальным поглощением [1], так и наличием локализованных состояний в запрещённой зоне
[2, 3], что позволяет продвинуться в более длинноволновую область спектра. При создании
фотоприёмных структур на основе тонких плёнок большое значение имеет определение влияния
поверхности на фоточувствительность при различных химических и технологических обработках
поверхности.
При Т = 4,2 К были исследованы легированные In эпитаксиальные слои Pb1-xSnxTe/BaF2 с составом
0,28 ≤ х ≤ 0,32 (толщиной d ≈ 1 мкм) и концентрацией In (0,5 – 3) ат. %, которые при Т < 20 K имеют
низкую проводимость, сравнимую с диалектиками. Источником освещения служили светодиодом с λ
= 0,63 мкм и абсолютно чёрное тело. Химическая обработка поверхности проводилась в растворе
изопропилового спирта, насыщенного парами соляной кислоты. Картины дифракции быстрых
электронов (ДБЭ) были получены в камере МЛЭ «Катунь» при давлении Р = 2∙10-6 Па. Физикохимическое состояние поверхности исследовалось методом рентгеновской фотоэлектронной
спектроскопии (РФЭС). Картины ДБЭ и спектры РФЭС были получены для исходной поверхности,
после отжига до температуры ~ 350 °С, после обработки в травителе, а также при последовательной
обработке в травителе и отжиге в вакууме до температуры ~ 350 °С.
Обнаружено, что обработка поверхности сильно влияет на вольтамперные характеристики (ВАХ)
и временные зависимости фототока. Наблюдалось возрастание темнового тока до 105
раз при
напряжении смещения 1 В. Величина фототока
также возрастала. Качественно и количественно
изменялись временные зависимости фототока.
При выдержке образцов на воздухе в течение
нескольких дней ВАХ-и и временные
зависимости тока возвращались к значениям до
обработки поверхности. На рисунке
представлены временные зависимости фототока
до (1), сразу после химической обработки
поверхности (2), через двое (3), трое (4) и пять
(5) суток и характерные постоянные времени
нарастания фототока. Стрелкой показан момент
включения освещения.
Результаты измерений сопоставлены с
данными РФЭС по составу поверхности плёнок
в зависимости от её обработки.
Показано, что изменения фотопроводимости могут быть обусловлены изменением состояния
поверхности, вызванного удалением собственного окисла и нарушением стехиометрии состава
вблизи поверхности.