{"title":"水化学沉积液取代cdxp1 xS的固态溶液的光谱和光电特性","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-51","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Химически осажденные пленки твердых растворов (ТРЗ) различного состава CdxPb1xS являются\nфоточувствительными в видимой и ближней ИК-области спектра. После извлечения из реакционной\nсмеси они не требуют сенсибилизации и готовы к практическому использованию.\nДиапазон спектральной чувствительности ТРЗ CdxPb1xS зависит от содержания в них кадмия. На\nспектральных характеристиках пленок CdxPb1xS при повышении содержания сульфида кадмия в ТРЗ\nот 0 до 17 мол.% “красная” граница фоточувствительности сдвигается в коротковолновую область с\n3.1. до 1.6 мкм, а максимум фоточувствительности с 2.5 до 1.2 мкм.\nСостав ТРЗ можно менять не только за счет изменения концентрации соли кадмия в реакторе, но и\nпутем использования солей кадмия с различной анионной компонентой, а также, учитывая\nнеоднородность состава по толщине пленки, регулированием времени осаждения слоя. При замене\n0.06 моль/л CdSО4 в реакторе таким же количеством CdI2 при прочих равных условиях содержание\nCdS в ТРЗ уменьшается с 11.1 до 5 мол.%. Поэтому максимум спектральной чувствительности\nсдвигается с 1.90 мкм до 1.45 мкм. Для пленок толщиной .3-1.0 мкм спектральная характеристика\nимеет выраженный максимум на длине волны 0.5 мкм, соответствующий фоточувствительности\nиндивидуального CdS, с которой при этих условиях начинается формирование пленки ТРЗ. С\nувеличением толщины пленки происходит постепенный сдвиг спектральной кривой в\nдлинноволновый диапазон вследствие уменьшения в составе ТРЗ мольной доли кадмия.\nВозможность формирования пленок CdxPb1xS различного состава обеспечивает получение\nматериалов с регулируемым положением максимума и “красной” границы спектральной\nхарактеристики во всем ближнем ИК-диапазоне. Особый интерес представляет ТРЗ Cd0.06Pb0.94S,\nимеющий эту характеристику практически аналогичную с германием, однако, обладающий более\nвысоким темновым сопротивлением, обеспечивая согласование в микроэлектронных схемах.\nПленка PbS без сенсибилизирующих добавок\nи проведения отжига, практически не обладает\nфоточувствительными свойствами. Введение в\nреактор соли кадмия сенсибилизирует пленку\nPbS. При переходе от индивидуального PbS к\nТРЗ CdxPb1xS тип проводимости изменяется от\n“n” к “p”, а концентрация носителей снижается\nна 3-5 порядков. С увеличением содержания\nкадмия в ТРЗ уровень вольт-ваттной\nчувствительности пленок возрастает, достигая\nнаибольших значений вблизи области\nмаксимума на рис. Причиной этого могут\nявляться хаотически распределенные\nинверсионные “пятна” CdS на гранях\nкристаллитов CdxPb1xS, имеющие\nадсорбционную природу.\nВольт-ваттная чувствительность пленок\nнаходится в пределах (0.5-1.0)∙103 В/Вт при\nиспользовании соли CdI2, возрастая до (1.0-\n2.0)∙104 В/Вт для тех же концентраций Cd(CH3COO)2. при относительно малых значениях времени\nфотоотклика (30-120 мкс). По вольт-ваттной чувствительности и постоянной времени пленки ТРЗ\nCdxPb1xS в ближней ИК-области спектра не имеют аналогов, и могут найти применение в\nоптоэлектронных устройствах.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"4 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Спектральные и фотоэлектрические характеристики гидрохимически осажденных\\nпленок твердых растворов замещения CdxPb1−xS\",\"authors\":\"\",\"doi\":\"10.34077/rcsp2019-51\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"Химически осажденные пленки твердых растворов (ТРЗ) различного состава CdxPb1xS являются\\nфоточувствительными в видимой и ближней ИК-области спектра. После извлечения из реакционной\\nсмеси они не требуют сенсибилизации и готовы к практическому использованию.\\nДиапазон спектральной чувствительности ТРЗ CdxPb1xS зависит от содержания в них кадмия. На\\nспектральных характеристиках пленок CdxPb1xS при повышении содержания сульфида кадмия в ТРЗ\\nот 0 до 17 мол.% “красная” граница фоточувствительности сдвигается в коротковолновую область с\\n3.1. до 1.6 мкм, а максимум фоточувствительности с 2.5 до 1.2 мкм.\\nСостав ТРЗ можно менять не только за счет изменения концентрации соли кадмия в реакторе, но и\\nпутем использования солей кадмия с различной анионной компонентой, а также, учитывая\\nнеоднородность состава по толщине пленки, регулированием времени осаждения слоя. При замене\\n0.06 моль/л CdSО4 в реакторе таким же количеством CdI2 при прочих равных условиях содержание\\nCdS в ТРЗ уменьшается с 11.1 до 5 мол.%. Поэтому максимум спектральной чувствительности\\nсдвигается с 1.90 мкм до 1.45 мкм. Для пленок толщиной .3-1.0 мкм спектральная характеристика\\nимеет выраженный максимум на длине волны 0.5 мкм, соответствующий фоточувствительности\\nиндивидуального CdS, с которой при этих условиях начинается формирование пленки ТРЗ. С\\nувеличением толщины пленки происходит постепенный сдвиг спектральной кривой в\\nдлинноволновый диапазон вследствие уменьшения в составе ТРЗ мольной доли кадмия.\\nВозможность формирования пленок CdxPb1xS различного состава обеспечивает получение\\nматериалов с регулируемым положением максимума и “красной” границы спектральной\\nхарактеристики во всем ближнем ИК-диапазоне. Особый интерес представляет ТРЗ Cd0.06Pb0.94S,\\nимеющий эту характеристику практически аналогичную с германием, однако, обладающий более\\nвысоким темновым сопротивлением, обеспечивая согласование в микроэлектронных схемах.\\nПленка PbS без сенсибилизирующих добавок\\nи проведения отжига, практически не обладает\\nфоточувствительными свойствами. Введение в\\nреактор соли кадмия сенсибилизирует пленку\\nPbS. При переходе от индивидуального PbS к\\nТРЗ CdxPb1xS тип проводимости изменяется от\\n“n” к “p”, а концентрация носителей снижается\\nна 3-5 порядков. С увеличением содержания\\nкадмия в ТРЗ уровень вольт-ваттной\\nчувствительности пленок возрастает, достигая\\nнаибольших значений вблизи области\\nмаксимума на рис. Причиной этого могут\\nявляться хаотически распределенные\\nинверсионные “пятна” CdS на гранях\\nкристаллитов CdxPb1xS, имеющие\\nадсорбционную природу.\\nВольт-ваттная чувствительность пленок\\nнаходится в пределах (0.5-1.0)∙103 В/Вт при\\nиспользовании соли CdI2, возрастая до (1.0-\\n2.0)∙104 В/Вт для тех же концентраций Cd(CH3COO)2. при относительно малых значениях времени\\nфотоотклика (30-120 мкс). По вольт-ваттной чувствительности и постоянной времени пленки ТРЗ\\nCdxPb1xS в ближней ИК-области спектра не имеют аналогов, и могут найти применение в\\nоптоэлектронных устройствах.\",\"PeriodicalId\":118786,\"journal\":{\"name\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"volume\":\"4 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"2019-05-24\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-51\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-51","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
摘要
化学沉积薄膜固溶体(ТРЗ)各种CdxPb1xSявляютсяфоточувствительн在可见光和近红外光谱。一旦从反动混合物中提取出来,它们就不需要感官化,准备实际使用。波段光谱灵敏度ТРЗCdxPb1xS取决于镉含量。磁带наспектральн特性CdxPb1xSТРЗот硫化镉含量升高时0到17祈祷。红外光敏边界移动到c3.1短波区域。最大光敏度从2.5 mkm到1.2 mkm不等。trz的组成不仅可以通过改变反应堆中的镉盐浓度来改变,还可以通过使用不同阴离子成分的镉盐来改变,并考虑到胶片厚度的不均匀性,调节层的沉积时间。在相同数量的cdso4中,CdI2的替换率从11.1降到了5%。因此,光谱敏感性的最大值从1.90 mkm到1.45 mkm。对于厚度为。3-1.0 m的胶片,光谱特征在0.5 m的波长上是可见的。胶片厚度随时间的变化而变化,长波波段的光谱曲线随时间的变化而变化。可能形成对比度CdxPb1xS不同编制提供红色получениематериал调节位置最多和边境各地спектральнойхарактеристик近红外波段。特别感兴趣的是Cd0.06Pb0.94S,它的特性几乎与德国相似,但具有很强的黑电阻,在微电路中提供了一致性。如果没有感官辅助退火剂,PbS胶片几乎没有光敏特性。kadmiya盐的引入使胶片感觉。过渡从个人PbSкТРЗCdxPb1xS电导率变化类型从" n "到" p ",снижается载体浓度3 - 5。随着tr中镉含量的增加,胶片的电压敏感度上升,达到水稻高原附近的最高水平。原因是混沌распределенныеинверсионмогутявля“污点”CdSграняхкристаллитCdxPb1xSимеющиеадсорбцион大自然。胶片的电压敏感度(0.5-1.0)在/ wt中为CdI2(1.0-2.0)。时间响应值相对较低(30-120 mx)。伏瓦的敏感和时间常数胶卷ТРЗCdxPb1xS在近红外光谱具有类比,可以找到воптоэлектрон应用。
Спектральные и фотоэлектрические характеристики гидрохимически осажденных
пленок твердых растворов замещения CdxPb1−xS
Химически осажденные пленки твердых растворов (ТРЗ) различного состава CdxPb1xS являются
фоточувствительными в видимой и ближней ИК-области спектра. После извлечения из реакционной
смеси они не требуют сенсибилизации и готовы к практическому использованию.
Диапазон спектральной чувствительности ТРЗ CdxPb1xS зависит от содержания в них кадмия. На
спектральных характеристиках пленок CdxPb1xS при повышении содержания сульфида кадмия в ТРЗ
от 0 до 17 мол.% “красная” граница фоточувствительности сдвигается в коротковолновую область с
3.1. до 1.6 мкм, а максимум фоточувствительности с 2.5 до 1.2 мкм.
Состав ТРЗ можно менять не только за счет изменения концентрации соли кадмия в реакторе, но и
путем использования солей кадмия с различной анионной компонентой, а также, учитывая
неоднородность состава по толщине пленки, регулированием времени осаждения слоя. При замене
0.06 моль/л CdSО4 в реакторе таким же количеством CdI2 при прочих равных условиях содержание
CdS в ТРЗ уменьшается с 11.1 до 5 мол.%. Поэтому максимум спектральной чувствительности
сдвигается с 1.90 мкм до 1.45 мкм. Для пленок толщиной .3-1.0 мкм спектральная характеристика
имеет выраженный максимум на длине волны 0.5 мкм, соответствующий фоточувствительности
индивидуального CdS, с которой при этих условиях начинается формирование пленки ТРЗ. С
увеличением толщины пленки происходит постепенный сдвиг спектральной кривой в
длинноволновый диапазон вследствие уменьшения в составе ТРЗ мольной доли кадмия.
Возможность формирования пленок CdxPb1xS различного состава обеспечивает получение
материалов с регулируемым положением максимума и “красной” границы спектральной
характеристики во всем ближнем ИК-диапазоне. Особый интерес представляет ТРЗ Cd0.06Pb0.94S,
имеющий эту характеристику практически аналогичную с германием, однако, обладающий более
высоким темновым сопротивлением, обеспечивая согласование в микроэлектронных схемах.
Пленка PbS без сенсибилизирующих добавок
и проведения отжига, практически не обладает
фоточувствительными свойствами. Введение в
реактор соли кадмия сенсибилизирует пленку
PbS. При переходе от индивидуального PbS к
ТРЗ CdxPb1xS тип проводимости изменяется от
“n” к “p”, а концентрация носителей снижается
на 3-5 порядков. С увеличением содержания
кадмия в ТРЗ уровень вольт-ваттной
чувствительности пленок возрастает, достигая
наибольших значений вблизи области
максимума на рис. Причиной этого могут
являться хаотически распределенные
инверсионные “пятна” CdS на гранях
кристаллитов CdxPb1xS, имеющие
адсорбционную природу.
Вольт-ваттная чувствительность пленок
находится в пределах (0.5-1.0)∙103 В/Вт при
использовании соли CdI2, возрастая до (1.0-
2.0)∙104 В/Вт для тех же концентраций Cd(CH3COO)2. при относительно малых значениях времени
фотоотклика (30-120 мкс). По вольт-ваттной чувствительности и постоянной времени пленки ТРЗ
CdxPb1xS в ближней ИК-области спектра не имеют аналогов, и могут найти применение в
оптоэлектронных устройствах.