{"title":"提出一个基于模型的方法来分析技术产品系统及其开发阶段的环境","authors":"Ovidiu Bielefeld, Manuel Löwer, N. Schlüter","doi":"10.1007/978-3-662-63243-7_1","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"","PeriodicalId":262511,"journal":{"name":"Qualitätsmanagement in den 20er Jahren - Trends und Perspektiven","volume":"4 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"1900-01-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":"{\"title\":\"Vorstellung einer modellbasierten Methodik für eine ganzheitliche Fehleranalyse eines technischen Produktsystems mit seiner Umwelt in der Nutzungsphase\",\"authors\":\"Ovidiu Bielefeld, Manuel Löwer, N. Schlüter\",\"doi\":\"10.1007/978-3-662-63243-7_1\",\"DOIUrl\":null,\"url\":null,\"abstract\":\"\",\"PeriodicalId\":262511,\"journal\":{\"name\":\"Qualitätsmanagement in den 20er Jahren - Trends und Perspektiven\",\"volume\":\"4 1\",\"pages\":\"0\"},\"PeriodicalIF\":0.0000,\"publicationDate\":\"1900-01-01\",\"publicationTypes\":\"Journal Article\",\"fieldsOfStudy\":null,\"isOpenAccess\":false,\"openAccessPdf\":\"\",\"citationCount\":\"0\",\"resultStr\":null,\"platform\":\"Semanticscholar\",\"paperid\":null,\"PeriodicalName\":\"Qualitätsmanagement in den 20er Jahren - Trends und Perspektiven\",\"FirstCategoryId\":\"1085\",\"ListUrlMain\":\"https://doi.org/10.1007/978-3-662-63243-7_1\",\"RegionNum\":0,\"RegionCategory\":null,\"ArticlePicture\":[],\"TitleCN\":null,\"AbstractTextCN\":null,\"PMCID\":null,\"EPubDate\":\"\",\"PubModel\":\"\",\"JCR\":\"\",\"JCRName\":\"\",\"Score\":null,\"Total\":0}","platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Qualitätsmanagement in den 20er Jahren - Trends und Perspektiven","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.1007/978-3-662-63243-7_1","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
Vorstellung einer modellbasierten Methodik für eine ganzheitliche Fehleranalyse eines technischen Produktsystems mit seiner Umwelt in der Nutzungsphase