Tetsuya Hasegawa, S. Okazaki
{"title":"Scanning Probe Microscopic Measurements at Low Temperatures","authors":"Tetsuya Hasegawa, S. Okazaki","doi":"10.11311/JSCTA1974.32.218","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@ @?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@? @@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@? @?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@?@?e@?@? @?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@?@?@@@?@? @?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@?@?f@? @@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?@@@@@@@?","PeriodicalId":19096,"journal":{"name":"Netsu Sokutei","volume":"61 1","pages":"218-225"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2005-11-30","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Netsu Sokutei","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.11311/JSCTA1974.32.218","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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低温扫描探针显微测量
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