Logiciel Hikad : modéliser l'organisation atomique durant la croissance de HfO sur silicium

Alain Estève, M. Djafari-Rouhani, A. Dkhissi, C. Mastail, Georges Landa, Anne Hémeryck, N. Richard
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Abstract

Nous decrivons ici la mise en œuvre d'une strategie de modelisation multi-niveaux pour la simulation a l'echelle atomique des procedes en Micro et Nano-technologies. Cette strategie multi-niveaux combine des calculs quantiques de type fonctionnelle de la densite electronique DFT ( Density Functional Theory ) avec de la simulation mesoscopique au travers d'une technique de « Monte Carlo cinetique ». Nous nous attachons plus particulierement a detailler les etapes de construction d'un modele de type « Monte Carlo cinetique » base sur reseau et d'en souligner le caractere general pour la simulation procede : – gestion d'un espace decrit par un reseau de sites ; – ecriture des configurations ; – liste des mecanismes elementaires ; – gestion du temps d'experience. Ces elements generaux sont systematiquement etayes par un exemple d'application sur la croissance des oxydes de grille pour la microelectronique « ultime » : la croissance par couche atomique ( ALD  : Atomic Layer Deposition ) de l'oxyde d'Hafnium sur silicium.
Hikad软件:模拟HfO在硅上生长过程中的原子组织
本文描述了微纳米技术过程的原子尺度模拟的多级建模策略的实现。这种多层次策略结合了电子密度DFT(密度泛函理论)的泛函量子计算和通过“动力学蒙特卡罗”技术的介观模拟。我们特别关注建立基于网络的“动态蒙特卡罗”模型的各个阶段,并强调其对过程模拟的一般特征:-由站点网络描述的空间的管理;-编写配置;-基本机制清单;-经验时间管理。这些一般元素有一个应用于“最终”微电子学晶格氧化物生长的例子:氧化铪在硅上的原子层沉积(ALD)生长。
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