International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T)

Imaging & Microscopy Pub Date : 2008-06-01 DOI:10.1002/IMIC.200890030

J. Stroscio, L. Whitman, Della Miller

引用次数: 0

Abstract

The 2008 International Conference on Nanoscience + Technology (ICN+T) being held from 20 – 25 July 2008, in Keystone, Colorado, will provide an international forum for discussion of the latest developments in nanoscale science and technology and recent advances in scanning probe microscopy and related techniques.

查看原文本刊更多论文

国际纳米科学与技术会议(ICN+T)

2008年国际纳米科学+技术会议(ICN+T)将于2008年7月20日至25日在科罗拉多州的基斯顿举行，将为讨论纳米科学技术的最新发展以及扫描探针显微镜和相关技术的最新进展提供一个国际论坛。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

Imaging & Microscopy

自引率

0.00%

发文量