Practical Seminar on Microscopy 2017

Abstract

顕微鏡メーカーや分析機関の口頭発表とポスター展示 が柱で,最新の顕微評価技術に関して活発な意見交換の 場を提供することができた。出展企業・機関は計 15機 関となり,走査電子顕微鏡(SEM)や走査型プローブ 顕微鏡(SPM)だけでなく,イオン顕微鏡(SIMS)や, ラマン光・赤外光・XRFによるイメージングなど,装 置技術や応用技術について幅広い発表と展示が行われ た。Fig. 1に展示会場の様子を示す。 また,岡田康志先生(東京大学大学院 理学系研究科) をお招きして「共焦点光学系を利用した超解像顕微鏡の 原理と実装」の特別講演を頂いた。スピニングディスク 超解像顕微鏡法によるライブセルイメージングの例とし て,細胞内の微細構造が動く様子の動画映像が特に印象 的であった。Fig. 2に,ご講演中の岡田先生を示す。 本セミナーの参加者数は,事前申し込みと当日参加を 合わせて計 108名となり盛況であった。関東圏以外から も多くの参加者があり,関心の高さをあらためて実感し た次第である。アンケートでは,多彩な分析手法や評価 方法についてもっと知りたいという意見が多数寄せられ た。特に,材料に即した評価技術をより具体的に知りた いという要望が複数あった。さらに,近年の表面科学の 話題が,従来の材料表面研究にとどまらず,ナノバイオ や生体関連の研究にまで拡大を見せていることから,そ れらに関連した新たな顕微評価技術をいかに取り込んで いくのか課題も残されている。皆様からのご意見を参考 に,顕微評価技術について幅広く情報交換ができる定番 のセミナーとして益々発展させていきたいと考えてい る。 最後に,参加者の皆様,岡田先生,出展機関の方々に 深く感謝を申し上げる。本セミナーが顕微評価技術への 理解の深化,日本の顕微鏡技術の底上げに繋がれば幸い である。 表面科学 Vol. 38, No. 10, p. 533, 2017