Time resolved X-ray studies in semiconductor nanostructures

2012 Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO) Pub Date : 2012-05-06 DOI:10.1364/CLEO_AT.2012.JW2A.15

A. Jurgilaitis, M. Harb, H. Enquist, R. Nuske, A. Persson, J. Larsson

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Abstract

Time resolved X-ray diffraction has been used to study acoustic oscillations in InAs/Sb nanowires with diameters of 80 nm and 40 nm in order to determine the speed of sound in the wires.

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半导体纳米结构中的时间分辨x射线研究

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