Measurement of Electrical Potential Distribution in a Polymer near the Contact to a Metal by Means of Scanning Electron Microscopy

Abstract

The results establish the existence of an electric double layer at a polyethylene-aluminum contact. The potential contrast scanning electron microscopy requires sample cutting and caution in handling the electron beam of the microscope. Nevertheless, the presented method allows to investigate the electrical potential distribution in insulators mar the contact to metals without rupture of the composite. In further investigations, the quality of information can be improved by avoiding the evaporated carbon layer and extending the exploitation of lateral resolution for measuring the sample potential as a function of locus. In both cases, that demands enlarged variability of primary voltage of the microscope. Die vorgestellten Resultate beweisen die Existenz einer elektrischen Doppelschicht an einem Polyethylen-Aluminium Kontakt. Die dazu benutzte Potentialkontrast-Rasterelektronenmikroskopie verlangt das Sehneiden der Proben und Vorsicht im Umgang mit dem Primarstrahl des Mikroskopes. Ungeachtet dessen gestattet es die vorgestellte Methode, die clektrische Potentialverteilung in Isolatoren nahe ihres Kontaktes zu einem Metall zu untersuchen, ohne den Verbund zu zerstoren. In weiterfuhrenden Untersuchungen kann die Qualitat der Aussage erhoht werden, indem man die Kohleaufdampfschicht vermeidet und die laterale Auflosung der Potentialmessung besser ausnutzt durch verbesserte Variabilitat der Primarstrahlspannung des Mikroskopes.