Non-destructive testing of thin conducting films : Proceedings of the 12th world conference on non-destructive testing, Amsterdam (Netherlands), 23–28 Apr. 1989, Vol. 2, pp. 1519–1521. Edited by J. Boogaard and G.M. van Dijk, Elsevier, 1989

NDT International Pub Date : 1990-12-01 DOI:10.1016/0308-9126(90)90937-J

V. Gavrilin

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导电薄膜的无损检测:第十二届世界无损检测会议论文集，阿姆斯特丹(荷兰)，1989年4月23-28日，第2卷，第1519-1521页。由J. Boogaard和G.M. van Dijk编辑，爱思唯尔，1989

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