{"title":"Propriétés électroniques des surfaces solides - Techniques expérimentales","authors":"Jean-Marc Themlin","doi":"10.51257/a-v1-af3717","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Depuis un demi-siecle, la science des surfaces a accompli des progres remarquables dans la caracterisation et la connaissance de l’arrangement des atomes a la surface d’un solide de structure cristalline. A l’heure actuelle, les techniques de spectroscopie et d’imagerie permettant de sonder les proprietes electroniques des surfaces sont nombreuses. Pour autant, aucune d’entre elles ne peut donner un acces direct et univoque a l'ensemble de la structure atomique detaillee des couches perisuperficielles. La solution est donc la combinaison des informations fournies par plusieurs techniques, comme l'analyse dynamique des taches de diffraction LEED, la diffusion d'un faisceau atomique, la diffraction des photoelectrons, la diffraction des rayons X en incidence rasante, les images STM ou AFM. Ces approches croisees livrent au moins partiellement les caracteristiques structurales essentielles des surfaces des principaux solides.","PeriodicalId":14754,"journal":{"name":"Journal De Chimie Physique Et De Physico-chimie Biologique","volume":"46 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2011-07-10","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"1","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Journal De Chimie Physique Et De Physico-chimie Biologique","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.51257/a-v1-af3717","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 1
Abstract
Depuis un demi-siecle, la science des surfaces a accompli des progres remarquables dans la caracterisation et la connaissance de l’arrangement des atomes a la surface d’un solide de structure cristalline. A l’heure actuelle, les techniques de spectroscopie et d’imagerie permettant de sonder les proprietes electroniques des surfaces sont nombreuses. Pour autant, aucune d’entre elles ne peut donner un acces direct et univoque a l'ensemble de la structure atomique detaillee des couches perisuperficielles. La solution est donc la combinaison des informations fournies par plusieurs techniques, comme l'analyse dynamique des taches de diffraction LEED, la diffusion d'un faisceau atomique, la diffraction des photoelectrons, la diffraction des rayons X en incidence rasante, les images STM ou AFM. Ces approches croisees livrent au moins partiellement les caracteristiques structurales essentielles des surfaces des principaux solides.