Desarrollo de software para determinar constantes ópticas en películas delgadas semiconductoras no homogéneas

Abstract

En este trabajo se realizó el diseño y se desarrolló de una herramienta de software útil en el estudio de las propiedades ópticas de materiales semiconductores. Mediante este estudio es posible conocer si las películas delgadas semiconductoras no homogéneas sintetizadas son adecuadas para la fabricación de dispositivos semiconductores. Mediante el algoritmo desarrollado, basado en los métodos de Swanepoel, se logra estimar constantes ópticas de películas semiconductoras no homogéneas tales como: coeficiente de absorción (α), índice de refracción (n) y brecha de energía prohibida (Eg); además, se logra estimar la variación del espesor en ellas. Esta herramienta tiene como insumo la información en las curvas de transmitancia espectral resultantes de procedimientos experimentales. Se encontró que la herramienta propuesta ofrece un alto grado de confiabilidad y que, por tanto, se puede usar para estudiar las propiedades de películas delgadas semiconductoras que se utilicen en la fabricación de dispositivos semiconductores en diversas aplicaciones, entre ellas las energías limpias y renovables como son las celdas solares.