Effect of Sample Size on Statistical and Practical Significance Levels Used in Master’s Theses in Education at Omani Universities

IF 0.5 Q4 COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE

International Journal of Embedded Systems Pub Date : 2021-01-09 DOI:10.31436/IJES.V9I1.336

Ibrahim Said Humaid Alwahaibi, D. Al-Hidabi, Hussain Alkharusi

{"title":"Effect of Sample Size on Statistical and Practical Significance Levels Used in Master’s Theses in Education at Omani Universities","authors":"Ibrahim Said Humaid Alwahaibi, D. Al-Hidabi, Hussain Alkharusi","doi":"10.31436/IJES.V9I1.336","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"هدفت الدراسة إلى بحث أثر حجم العينة على كل من مستويات الدلالة الإحصائية ومؤشرات الدلالة العلمية في الاختبارات الإحصائية المستخدمة في رسائل الماجستير التربوية المنجزة بالجامعات العمانية. وتم استخدام المنهج الوصفي المسحي للإجابة على أسئلة الدراسة. وتكونت عينة الدراسة من (628) رسالة ماجستير بنسبة (33.14%) من مجتمع الدراسة والذي بلغ (1895) رسالة ماجستير. وصمم الباحث أداة تحليل المحتوى لجمع البيانات الخاصة بالاختبارات الإحصائية التي تضمنها البحث، وهي اختبارات ت واختبارات تحليل التباين، ومعاملات ارتباط بيرسون، ومعاملات الانحدار، وتم استخلاص قيم أحجام العينات وقيم الدلالات الإحصائية والعملية لهذه الاختبارات من رسائل الماجستير التي تضمنتها عينة الدراسة. وبعد تحليل هذه البيانات خلصت الدراسة إلى مجموعة من النتائج أهمها: وجود علاقة إيجابية دالة إحصائيا بين الدلالة الإحصائية وحجم العينة في جميع الاختبارات الإحصائية، وعلاقة سلبية دالة إحصائيا بين حجم العينة ومستويات الدلالة العملية، لجميع الاختبارات الإحصائية عدا اختبارات معامل ارتباط بيرسون. وأوصت الدراسة بتضمين مؤشرات الدلالة العملية في مقررات الإحصاء ومناهج البحث لطلبة الدراسات العليا في الجامعات العمانية","PeriodicalId":45480,"journal":{"name":"International Journal of Embedded Systems","volume":"9 1","pages":"21-45"},"PeriodicalIF":0.5000,"publicationDate":"2021-01-09","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"International Journal of Embedded Systems","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.31436/IJES.V9I1.336","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"Q4","JCRName":"COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

Abstract

هدفت الدراسة إلى بحث أثر حجم العينة على كل من مستويات الدلالة الإحصائية ومؤشرات الدلالة العلمية في الاختبارات الإحصائية المستخدمة في رسائل الماجستير التربوية المنجزة بالجامعات العمانية. وتم استخدام المنهج الوصفي المسحي للإجابة على أسئلة الدراسة. وتكونت عينة الدراسة من (628) رسالة ماجستير بنسبة (33.14%) من مجتمع الدراسة والذي بلغ (1895) رسالة ماجستير. وصمم الباحث أداة تحليل المحتوى لجمع البيانات الخاصة بالاختبارات الإحصائية التي تضمنها البحث، وهي اختبارات ت واختبارات تحليل التباين، ومعاملات ارتباط بيرسون، ومعاملات الانحدار، وتم استخلاص قيم أحجام العينات وقيم الدلالات الإحصائية والعملية لهذه الاختبارات من رسائل الماجستير التي تضمنتها عينة الدراسة. وبعد تحليل هذه البيانات خلصت الدراسة إلى مجموعة من النتائج أهمها: وجود علاقة إيجابية دالة إحصائيا بين الدلالة الإحصائية وحجم العينة في جميع الاختبارات الإحصائية، وعلاقة سلبية دالة إحصائيا بين حجم العينة ومستويات الدلالة العملية، لجميع الاختبارات الإحصائية عدا اختبارات معامل ارتباط بيرسون. وأوصت الدراسة بتضمين مؤشرات الدلالة العملية في مقررات الإحصاء ومناهج البحث لطلبة الدراسات العليا في الجامعات العمانية

查看原文本刊更多论文

样本量对阿曼大学教育硕士学位论文统计和实际意义水平的影响

这项研究的目的是研究抽样规模对阿曼大学教学硕士论文中使用的统计测试中统计指标和科学指标的影响。使用了描述性测量方法来回答研究问题。研究样本包括628份硕士论文，其中33.14%来自学界，1895年为硕士论文。研究人员设计了一项内容分析工具，用于收集与研究有关的统计测试的数据，这些测试包括差异分析测试、pierson相关性系数和回归分析，并从研究样品的硕士论文中提取样本的大小和统计和实用意义的数值。在对这些数据进行分析后，研究得出了一套最重要的结论:所有统计测试中的统计意义与样本数量之间存在统计学上的正比关系，除皮尔逊相关实验室外，所有统计测试的样本数量和实际意义之间存在统计学上的正比关系。研究报告建议将实际意义指标纳入阿曼大学研究生的统计课程和研究课程。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

International Journal of Embedded Systems COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-

CiteScore

2.50

自引率

41.70%

发文量

期刊介绍： With the advent of VLSI system level integration and system-on-chip, the centre of gravity of the computer industry is now moving from personal computing into embedded computing. Embedded systems are increasingly becoming a key technological component of all kinds of complex technical systems, ranging from vehicles, telephones, audio-video-equipment, aircraft, toys, security systems, medical diagnostics, to weapons, pacemakers, climate control systems, manufacturing systems, intelligent power systems etc. IJES addresses the state of the art of all aspects of embedded computing systems with emphasis on algorithms, systems, models, compilers, architectures, tools, design methodologies, test and applications.