PM-19 Deep learning analysis of Si(111)-7x7 surface in atomic force microscopy

IF 1.5 4区工程技术 Q3 MICROSCOPY

Microscopy Pub Date : 2019-11-01 DOI:10.1093/jmicro/dfz102

Kei Ueda, M. Abe

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PM-19原子力显微镜中Si（111）-7x7表面的深度学习分析

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Microscopy Physics and Astronomy-Instrumentation

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期刊介绍： Microscopy, previously Journal of Electron Microscopy, promotes research combined with any type of microscopy techniques, applied in life and material sciences. Microscopy is the official journal of the Japanese Society of Microscopy.