Análisis y modelado de un sistema para tomografía optoacústica basado en interferometría óptica heterodina

R. M. Insabella, M. González
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Abstract

En este trabajo se analizan y caracterizan las fuentes de los artefactos introducidos en las imágenes obtenidas con un sistema para tomografía optoacústica basado en el concepto de optoelectrónica definida por software. Se muestra que las señales medidas están afectadas tanto por la geometría cilíndrica del sensor óptico como por el ruido eléctrico. Este último posee frecuencias bien definidas dentro del espectro atribuibles a la electrónica usada en el proceso de heterodinaje del detector óptico de ultrasonido. Se propone una forma de incluir estos efectos en señales simuladas y se prueba el modelo comparándolo con mediciones. Los resultados de este trabajo permitirán el uso de la técnica de aprendizaje profundo para mejorar la calidad de las imágenes obtenidas con este tipo de sistemas tomográficos.
基于外差光学干涉测量法的光声层析成像系统的分析与建模
在此背景下,本文提出了一种基于软件定义的光电子学概念的光声层析成像系统所获得的图像中引入的伪影源的分析和表征。结果表明,被测信号受到光学传感器圆柱形几何形状和电噪声的影响。后者在光学超声波探测器的异质化过程中使用的电子设备的光谱中具有明确的频率。本文提出了一种将这些效应纳入模拟信号的方法,并通过与测量值的比较来检验模型。这项工作的结果将允许使用深度学习技术来提高这种层析成像系统获得的图像质量。
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