电晕带电聚四氟乙烯薄膜驻极体的电荷动态特性。

本文采用电晕充电、等温和热刺激表面电位衰减测量等方法，研究了多孔和非多孔聚四氟乙烯(PTFE)薄膜驻极体中注入、输运和衰减的电荷动力学特性。结果表明，无论正电荷还是负电荷，非多孔PTFE的初始表面电位都比多孔PTFE高得多。对于多孔膜，初始表面电位随膜厚的增加而增大。较高的充电温度可显著提高充电稳定性。通过扫描电镜分析，将电荷动力学与材料微观结构联系起来。对于非多孔PTFE薄膜，C-F键极化率的变化是驻极体电荷的主要来源;而对于多孔聚四氟乙烯薄膜，由于界面面积大，结晶度高，预计会产生大量的块状和界面型陷阱。