Analisis Kandungan Logam Dan Ftalat pada Komponen Eletronik menggunakan XRF dan Py/GC-MS

A. Lestari, Nabilah Maulida
{"title":"Analisis Kandungan Logam Dan Ftalat pada Komponen Eletronik menggunakan XRF dan Py/GC-MS","authors":"A. Lestari, Nabilah Maulida","doi":"10.21009/jrskt.101.02","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Abstrak \nPerkembangan elektronik pada bidang industri mempengaruhi kehidupan sehari hari. Penggunaannnya yang berlebihan dapat meningkatkan resiko berbahaya pada penggunanya. Salah satu faktor bahaya pada komponen elektronik yang digunakan adalah terdapatnya logam dan flatat. RoHS merupakan regulasi Uni Eropa yang mengatur pembatasan penggunaan zat-zat berbahaya seperti Pb, Hg, Cd, dan Cr6+, serta PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, dan DEHP dalam produk-produk elektronik dan listrik. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui kandungan zat-zat berbahaya yang diatur oleh RoHS pada sampel komponen elektronik. Metode yang digunakan adalah skrining awal menggunakan XRF dan penetapan kadar ftalat dengan Py/GC-MS. Hasil penelitian menunjukkan bahwa sampel tidak mengandung logam berat (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, dan turunan Br. Kandungan Pb, DBP, dan DEHP yang terdeteksi memiliki konsentrasi rendah dan tidak melebihi batas maksimum penggunaan ftalat yang ditetapkan oleh RoHS, sehingga part elektronik tersebut dapat digunakan dalam produksi. \nKata kunci: elektronik, ftalat, logam, Py-GC-MS, RoHS, XRF \nAbstract \nThe development of electronics in the industrial sector affects daily life. Its excessive use can increase the risk of harm to its users. One of the hazardous factors in the electronic components used is the presence of metals and flattates. RoHS is a European Union regulation that regulates restrictions on the use of hazardous substances such as Pb, Hg, Cd, and Cr6+, as well as PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, and DEHP in electronic and electrical products. This study aims to determine the content of RoHS-regulated hazardous substances in electronic component samples. The methods used were preliminary screening using XRF and determination of phthalate levels by Py/GC-MS. The results showed that the samples did not contain heavy metals (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, and Br derivatives. The detected Pb, DBP, and DEHP contents had low concentrations and did not exceed the maximum limit of phthalate use set by RoHS, so the electronic parts could be used in production. \nKeywords:electronics, metals,  phthalates,  Py-GC-MS, RoHS, XRF","PeriodicalId":17612,"journal":{"name":"JRSKT - Jurnal Riset Sains dan Kimia Terapan","volume":null,"pages":null},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2024-07-15","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"JRSKT - Jurnal Riset Sains dan Kimia Terapan","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.21009/jrskt.101.02","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

Abstrak Perkembangan elektronik pada bidang industri mempengaruhi kehidupan sehari hari. Penggunaannnya yang berlebihan dapat meningkatkan resiko berbahaya pada penggunanya. Salah satu faktor bahaya pada komponen elektronik yang digunakan adalah terdapatnya logam dan flatat. RoHS merupakan regulasi Uni Eropa yang mengatur pembatasan penggunaan zat-zat berbahaya seperti Pb, Hg, Cd, dan Cr6+, serta PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, dan DEHP dalam produk-produk elektronik dan listrik. Penelitian ini bertujuan untuk mengetahui kandungan zat-zat berbahaya yang diatur oleh RoHS pada sampel komponen elektronik. Metode yang digunakan adalah skrining awal menggunakan XRF dan penetapan kadar ftalat dengan Py/GC-MS. Hasil penelitian menunjukkan bahwa sampel tidak mengandung logam berat (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, dan turunan Br. Kandungan Pb, DBP, dan DEHP yang terdeteksi memiliki konsentrasi rendah dan tidak melebihi batas maksimum penggunaan ftalat yang ditetapkan oleh RoHS, sehingga part elektronik tersebut dapat digunakan dalam produksi. Kata kunci: elektronik, ftalat, logam, Py-GC-MS, RoHS, XRF Abstract The development of electronics in the industrial sector affects daily life. Its excessive use can increase the risk of harm to its users. One of the hazardous factors in the electronic components used is the presence of metals and flattates. RoHS is a European Union regulation that regulates restrictions on the use of hazardous substances such as Pb, Hg, Cd, and Cr6+, as well as PBB, PBDE, DIBP, DBP, BBP, and DEHP in electronic and electrical products. This study aims to determine the content of RoHS-regulated hazardous substances in electronic component samples. The methods used were preliminary screening using XRF and determination of phthalate levels by Py/GC-MS. The results showed that the samples did not contain heavy metals (Cd, Hg, Cr), DIBP, BBP, and Br derivatives. The detected Pb, DBP, and DEHP contents had low concentrations and did not exceed the maximum limit of phthalate use set by RoHS, so the electronic parts could be used in production. Keywords:electronics, metals,  phthalates,  Py-GC-MS, RoHS, XRF
利用 XRF 和 Py/GC-MS 分析电子元件中的金属和邻苯二甲酸酯含量
摘要 电子产品在工业领域的发展影响着人们的日常生活。过度使用电子产品会增加对用户造成伤害的风险。所使用的电子元件中的有害因素之一就是金属和扁平材料的存在。RoHS 是欧盟的一项法规,规定限制在电子电气产品中使用 Pb、Hg、Cd 和 Cr6+等有害物质,以及 PBB、PBDE、DIBP、DBP、BBP 和 DEHP。本研究旨在确定电子元件样品中 RoHS 规定的有害物质的含量。所采用的方法是利用 XRF 进行初步筛选,并利用 Py/GC-MS 测定邻苯二甲酸酯的含量。结果表明,样品中不含有重金属(镉、汞、铬)、DIBP、BBP 和 Br 衍生物;检测出的 Pb、DBP 和 DEHP 含量较低,未超过 RoHS 规定的邻苯二甲酸酯使用上限,因此电子元件可用于生产。关键词:电子产品;邻苯二甲酸盐;金属;Py-GC-MS;RoHS;XRF 摘要 电子产品在工业领域的发展影响着人们的日常生活。过度使用电子产品会增加对使用者造成伤害的风险。所使用的电子元件中的有害因素之一就是金属和扁平材料的存在。RoHS 是欧盟的一项法规,规定限制在电子电气产品中使用有害物质,如铅、汞、镉和 Cr6+,以及多溴联苯(PBB)、多溴联苯醚(PBDE)、二溴联苯(DIBP)、二溴联苯(DBP)、多溴联苯(BBP)和 DEHP。本研究旨在确定电子元件样品中 RoHS 规定的有害物质的含量。采用的方法是利用 XRF 进行初步筛选,并利用 Py/GC-MS 测定邻苯二甲酸酯的含量。结果表明,样品中不含有重金属(镉、汞、铬)、DIBP、BBP 和 Br 衍生物。检测到的铅、DBP 和 DEHP 含量较低,未超过 RoHS 规定的邻苯二甲酸酯使用上限,因此电子零件可用于生产。关键词:电子产品、金属、邻苯二甲酸盐、Py-GC-MS、RoHS、XRF
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 求助全文
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信