{"title":"Maßstäbe im Kontaminations-Monitoring in Reinräumen","authors":"","doi":"10.1002/citp.202400304","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"<p>Particle Measuring Systems (PMS) setzt Maßstäbe in Sachen Kontaminations-Monitoring in Reinräumen. Mit mehr als 60 Patenten erschaffen wir die Technologie, die es Ihnen ermöglicht, fundierte Entscheidungen zu treffen, den Prozessertrag zu verbessern und den sich ändernden gesetzlichen Anforderungen zu entsprechen.</p>","PeriodicalId":100247,"journal":{"name":"CITplus","volume":null,"pages":null},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2024-03-01","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"https://onlinelibrary.wiley.com/doi/epdf/10.1002/citp.202400304","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"CITplus","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/citp.202400304","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Particle Measuring Systems (PMS) setzt Maßstäbe in Sachen Kontaminations-Monitoring in Reinräumen. Mit mehr als 60 Patenten erschaffen wir die Technologie, die es Ihnen ermöglicht, fundierte Entscheidungen zu treffen, den Prozessertrag zu verbessern und den sich ändernden gesetzlichen Anforderungen zu entsprechen.