ВПЛИВ ТИПУ ПІДКЛАДКИ НА СТРУКТУРНО-ОПТИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТВЕРДИХ РОЗЧИНІВ CdTe1-хSeх

MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES Pub Date : 2023-09-29 DOI:10.31891/2219-9365-2023-75-25

Віталій Ващинський, Ігор Семків, Микола Соловйов, Маряна Каркульовська, Григорій Ільчук

{"title":"ВПЛИВ ТИПУ ПІДКЛАДКИ НА СТРУКТУРНО-ОПТИЧНІ ВЛАСТИВОСТІ ТВЕРДИХ РОЗЧИНІВ CdTe1-хSeх","authors":"Віталій Ващинський, Ігор Семків, Микола Соловйов, Маряна Каркульовська, Григорій Ільчук","doi":"10.31891/2219-9365-2023-75-25","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання. В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання.","PeriodicalId":128911,"journal":{"name":"MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES","volume":"115 1","pages":""},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-09-29","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.31891/2219-9365-2023-75-25","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}

引用次数: 0

Abstract

В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання. В даній роботі наведено результати досліджень структурно-оптичних властивостей твердих розчинів CdTe1-хSeх підкладках з кремнію та ІТО/скло. Наведено методику синтезу багатошарових плівкових структур методом високочастотного магнетронного осадження. За даними рентгенівської дифракції проведено фазовий аналіз та уточнення кристалічної структури. Дослідження морфології та структури отриманих твердих розчинів проведено з використанням скануючої електронної мікроскопії. Досліджено спектральну залежність оптичного пропускання отриманих зразків у видимій областях при кімнатній температурі. Для твердих розчинів CdTe1-хSeх на підкладці ІТО/скло визначено оптичну ширину забороненої зони, яка становить 1,62еВ. Для досліджуваних плівок на різних підкладках оцінено коефіцієнти відбивання.

查看原文本刊更多论文

衬底类型对 CdTe1-xSe 固溶体结构和光学特性的影响

本文介绍了在硅和 ITO/ 玻璃基底上的 CdTe1-xSe 固溶体的结构和光学特性的研究结果。本文介绍了通过高频磁控沉积合成多层薄膜结构的方法。利用 X 射线衍射数据对晶体结构进行了相分析和细化。利用扫描电子显微镜研究了所得固溶体的形态和结构。研究了所获样品在室温下可见光区域的光学透射率的光谱依赖性。结果表明，ITO/玻璃基底上的碲化镉 1-xSex 固溶体的光带隙为 1.62 eV。估算了不同基底上被研究薄膜的反射系数。本文介绍了对硅基板和 ITO/ 玻璃基板上 CdTe1-xSe 固溶体的结构和光学特性的研究结果。文中介绍了一种通过高频磁控沉积合成多层薄膜结构的方法。利用 X 射线衍射数据对晶体结构进行了相分析和细化。利用扫描电子显微镜研究了所得固溶体的形态和结构。研究了所获样品在室温下可见光区域的光学透射率的光谱依赖性。结果表明，ITO/玻璃基底上的碲化镉 1-xSex 固溶体的光带隙为 1.62 eV。估算了不同基底上所研究薄膜的反射系数。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

MEASURING AND COMPUTING DEVICES IN TECHNOLOGICAL PROCESSES

自引率

0.00%

发文量