Integrated millimeter-wave photonic probes for an on-wafer network analyzer

International Topical Meeting on Microwave Photonics. MWP'99. Technical Digest (Cat. No.99EX301) Pub Date : 1999-11-17 DOI:10.1109/MWP.1999.819660

N. Sahri, T. Nagatsuma, T. Furuta, Y. Umeda, T. Ishibashi

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Abstract

A new network analyzer based on ultrafast optoelectronic techniques is presented. It uses integrated and packaged mm-wave-photonic active probes and enables on-wafer measurements of scattering parameters with a bandwidth exceeding 300 GHz.

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