Experiment on the Absolute Measurement of A Silicon Lattice Spacing at the NRLM

1988 Conference on Precision Electromagnetic Measurements Pub Date : 1988-06-07 DOI:10.1109/CPEM.1988.671382

K. Nakayama, M. Tanaka, K. Kuroda

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Abstract

An improvement of the x-ray and optical interferometer system is in progress for the absolute determination of the silicon

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在NRLM上绝对测量硅晶格间距的实验

对x射线光学干涉仪系统进行了改进，用于硅的绝对测定

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