Amorf Yarıiletken InTe İnce Filminin Üretilmesi ve Karakterizasyonu

Abstract

Bu calismada, InTe amorf yariiletken malzemenin, X isini difraksiyonu, elektriksel iletkenligi, optik ve dielektrik ozellikleri arastirildi. X-isini difraksiyon sonuclari InTe numunesinin amorf yapiya sahip oldugunu gosterir. Numunenin elektriksel iletkenliginin sicakliga bagliligi arastirildi ve bulunan sonuclar numunenin bir amorf yariiletken oldugunu dogrular. InTe numunesi fotoiletkenlik ozellik gosterir. Numunenin optik band araligi ve optik sabitleri gecirgenlik ve yansima spektrumlari kullanilarak hesaplandi. Numunede dogrudan optik gecisler meydana geldi. Numunenin kirilma indisi dispersiyon egrisi tek osilator modeline uydu. Numunenin dielektrik ozellikleri frekansin ve sicakligin bir fonsiyonu olarak arastirildi. Dielektrik parametrelerin sicaklik ve frekansla degistigi bulundu. Elektrik modulus egrileri dielektrik relaksasyon olayini analiz etmek icin kullanildi.