Radiation Testing of the IDE3380 SiPM Readout ASIC

2019 19th European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS) Pub Date : 2019-09-01 DOI:10.1109/radecs47380.2019.9745675

T. Stein, Arne Fredriksen, J. Holter, Petter Øya, Ketil Rϕed, D. Meier

引用次数: 2

Abstract

The IDEAS IDE3380 mixed-signal SiPM readout ASIC and ADC technology for space in AMS 0.35μm CMOS shows no relevant change below 340 krad(Si) TID, no latch-up below 137 MeV cm2/mg, and no SEU/SETs below 18 MeV cm2/mg.

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IDE3380 SiPM读出ASIC的辐射测试

IDEAS IDE3380混合信号SiPM读出ASIC和ADC技术用于AMS 0.35μm CMOS空间，在340 krad(Si) TID以下无相关变化，在137 MeV cm2/mg以下无锁存，在18 MeV cm2/mg以下无SEU/SETs。

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