A Statistical Approach to EMI - Theory and Experiment Part I

1987 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/isemc.1987.7570812

D. Weiner, G. Capraro

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Abstract

A probabilistic approach to EMI is presented. The approach is illustrated by analyzing an experimental circuit in which EMI occurs. Both random and weakly nonlinear effects are accounted for in the analysis.

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电磁干扰的统计方法——理论与实验第一部分

提出了一种电磁干扰的概率方法。通过分析一个产生电磁干扰的实验电路来说明这种方法。分析中考虑了随机效应和弱非线性效应。

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1987 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility

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