Hacia el modelado de material particulado fino en Santiago, Chile, mediante imágenes MODIS

Abstract

Este estudio exploro la capacidad que ofrece el producto de profundidad optica de aerosoles (aerosol optical depth, AOD) creado diariamente desde imagenes MODIS (Moderate Resolution Imaging Spectroradiometer) adquiridas a las 10:30 AM y 1:30 PM hora local, para predecir las concentraciones superficiales de material particulado fino (MP2,5), medidas en las estaciones de monitoreo de la ciudad de Santiago, Chile, durante los meses estivales del ano 2016. Para esto, fueron realizadas correlaciones lineales entre ambas fuentes de datos, remotos y de terreno, calzados en tiempo y espacio, que permitieron dilucidar los dias y estaciones donde MODIS-AOD puede ofrecer la mejor correlacion. Considerando estos casos fue realizado un modelo de regresion lineal simple que permitio explorar la capacidad predictiva de MODIS-AOD. Las mejores correlaciones fueron consistentemente obtenidas cuando los datos MODIS-AOD creados a la 1:30 PM fueron considerados por estacion a lo largo de todos los dias muestreados en el periodo de interes. Al agrupar las estaciones de Cerro Navia, Quilicura y Pudahuel, el coeficiente de correlacion fue 0,77, en tanto que el modelo de regresion explico el 63% del comportamiento de las concentraciones superficiales de MP2,5 y mostro una precision de 69,1%. Los hallazgos de este estudio exploratorio constituyen una primera aproximacion al modelado de las concentraciones superficiales de MP2,5 en la ciudad de Santiago, con miras a ser robustecido a futuro, para con ello contribuir a prever alertas ambientales y ocurrencias de enfermedades relacionadas a la exposicion del contaminante.