KARAKTERISTIK SCR MENGGUNAKAN PROGRAM LabVIEW

Aripin Triyanto
{"title":"KARAKTERISTIK SCR MENGGUNAKAN PROGRAM LabVIEW","authors":"Aripin Triyanto","doi":"10.32493/EPIC.V2I1.1373","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Semakin berkembangnya dunia industri, maka sebagai seorang mahasiswa semester akhir dituntut untuk membuat tugas akhir agar memudahkan penggunaannya dalam proses suatu produksi. Pada pembahasan karakteristik SCR tipe 2N5060, membahas tentang perubahan tegangan terhadap arus (V-I). Tegangan yang dipicu terhadap Anoda-Katoda (V ak ) pada kaki SCR terhadap perubahan arus Gate-Katoda (I gk ). Tujuan dari pengujian SCR 2N5060 adalah sebagai salah satu kontrol dari aplikasi switching pada inverter. Salah satu pengujian karakteristik SCR 2N5060 menggunakan rangkaian Opamp dengan komponen IC TL072CN, Resistor 1KΩ, kabel penghubung yang telah dirangkai pada breadboard dihubungkan dengan interface NI MyDAQ dan dimonitoring laptop dengan program LabVIEW. Tampilan data pada LabVIEW akan menggambarkan kurva karakteristik dari SCR. Perubahan nilai (V-I) tergantung seberapa besar kenaikkan nilai tegangan V AK dan V GK . Semakin besar nilai dari input V ak , maka akan berpengaruh terhadap I gk (semakin kecil nilainya). Semakin besar nilai dari input V ak , maka akan berpengaruh terhadap I ak (semakin besar nilainya). Breakdown tegangan dapat terjadi apabila V ak mendapatkan inputtegangan balik terhadap V ak.","PeriodicalId":137582,"journal":{"name":"EPIC : Journal of Electrical Power, Instrumentation and Control","volume":"1 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2018-08-02","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"1","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"EPIC : Journal of Electrical Power, Instrumentation and Control","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.32493/EPIC.V2I1.1373","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 1

Abstract

Semakin berkembangnya dunia industri, maka sebagai seorang mahasiswa semester akhir dituntut untuk membuat tugas akhir agar memudahkan penggunaannya dalam proses suatu produksi. Pada pembahasan karakteristik SCR tipe 2N5060, membahas tentang perubahan tegangan terhadap arus (V-I). Tegangan yang dipicu terhadap Anoda-Katoda (V ak ) pada kaki SCR terhadap perubahan arus Gate-Katoda (I gk ). Tujuan dari pengujian SCR 2N5060 adalah sebagai salah satu kontrol dari aplikasi switching pada inverter. Salah satu pengujian karakteristik SCR 2N5060 menggunakan rangkaian Opamp dengan komponen IC TL072CN, Resistor 1KΩ, kabel penghubung yang telah dirangkai pada breadboard dihubungkan dengan interface NI MyDAQ dan dimonitoring laptop dengan program LabVIEW. Tampilan data pada LabVIEW akan menggambarkan kurva karakteristik dari SCR. Perubahan nilai (V-I) tergantung seberapa besar kenaikkan nilai tegangan V AK dan V GK . Semakin besar nilai dari input V ak , maka akan berpengaruh terhadap I gk (semakin kecil nilainya). Semakin besar nilai dari input V ak , maka akan berpengaruh terhadap I ak (semakin besar nilainya). Breakdown tegangan dapat terjadi apabila V ak mendapatkan inputtegangan balik terhadap V ak.
卡拉克SCR蒙古纳坎程序的LabVIEW
随着工业的发展,作为一名大四学生,有必要制定一个完成的任务,以便在生产过程中更容易地使用它。关于2N5060类型SCR特性的讨论,讨论电流(V-I)的电压变化。在SCR电流(I gk)上诱发的电压与SCR - katoda (V - ak)的电流变化有关。SCR 2N5060测试的目的是作为逆变器应用程序的控制之一。测试特点之一SCR 2N5060用一系列Opamp TL072CN IC组件,电阻1KΩ面包板、有线电视组装起来的联络与NI MyDAQ和笔记本电脑与dimonitoring LabVIEW编程接口。LabVIEW上的数据视图将描述SCR的特征曲线。值(V- i)变化取决于伏- AK和伏GK电压升高多少。V - ak输入的价值越大,它对gk(价值越低)的影响就越大。V - ak输入的价值越大,它就会对I - k产生更大的影响。当V ak得到V ak的反向旋转时,可以发生减压现象。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 求助全文
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:604180095
Book学术官方微信