États de surface - Mesure

Bernard Raphet
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Abstract

Ce document est a lire a la suite du dossier [R 1 230]. Les dossiers [R 1 230] et [R 1 231] presentent, d'une maniere non exhaustive, les connaissances actuellement admises dans le domaine de la caracterisation de surface a partir essentiellement d'une etude bibliographique et de l'experience de l'auteur. Dans le monde industriel, on retrouve aujourd'hui, la presence: - de plans avec des parametres correspondants aux anciennes normes (definitions differentes suivant les pays d'origine) ; - de materiels d'ancienne generation (parametres suivants anciennes normes avec un traitement du signal plus normalise) ; - de plans et equipements conformes a la normalisation en vigueur, mais que peu de gens utilisent correctement; - d'equipements permettant la caracterisation tridimensionnelle de l'etat de surface, avec des methodes de traitement differentes; - de documents prenormatifs des parametres de surface. Cette situation est due a la recente evolution de la normalisation, et au developpement des equipements, a l'augmentation des performances du materiel informatique et des logiciels. La mesure tridimensionnelle de la microgeometrie est actuellement le moyen le plus fidele pour caracteriser une surface. Elle permet l'observation, l'identification et la quantification des irregularites. Elle permet egalement la realisation d'etudes sur les correlations entre la microgeometrie et la fonction ou le comportement d'une surface. Ces etudes devraient permettre notamment de preciser ou redefinir les limites entre les differents ecarts geometriques (forme, ondulation et rugosite), que ce soit sur un profil ou sur une surface. En effet, si certaines fonctions necessite la prise en compte de ces ecarts geometriques separement, d'autres necessitent de les caracteriser plus globalement (par exemple: forme + ondulation ou ondulation + rugosite ou forme + ondulation + rugosite). Historiquement, l'etat de surface a ete evalue visuellement et/ou tactilement, puis mesure sur un profil a l'aide de capteurs avec un traitement du signal plus ou moins performants (profilometrie), et enfin mesure sur une partie de la surface (topographie). Les techniques tridimensionnelles ne sont plus reservees aux laboratoires de recherche. Les prototypes sont devenus des equipements industriels que l'on retrouve dans des laboratoires d'entreprises ou de societes de services. On peut imaginer qu'au niveau des equipements, les prochaines etapes seront la mesure tridimensionnelle d'etat de surface en production et la mesure integrale d'une surface entiere (macro, microgeometrie, soit de facon separee soit de facon globale).
表面状态-测量
本文件应在文件[r1230]后面阅读。文件[R 1230]和[R 1231]以非详尽的方式介绍了目前在表面表征领域公认的知识,主要是基于文献研究和作者的经验。在今天的工业世界中,我们发现:-与旧标准相对应的参数的计划(根据原产国的不同定义);-老一代材料(参数遵循旧标准,信号处理更标准化);-符合现行标准但很少有人正确使用的计划和设备;-使用不同处理方法对表面状态进行三维表征的设备;-表面参数的预规范文件。这是由于最近标准化的发展和设备的发展,以及计算机硬件和软件性能的提高。三维微几何测量是目前表征表面最可靠的方法。它允许观察、识别和量化违规行为。它还允许研究微观几何和表面的功能或行为之间的相关性。特别是,这些研究应该能够精确或重新定义轮廓或表面上各种几何偏差(形状、波纹和粗糙度)之间的边界。虽然某些功能需要单独考虑这些几何偏差,但其他功能需要更全面地描述它们(例如:形状+波纹或波纹+粗糙度或形状+波纹+粗糙度)。从历史上看,表面状态是通过视觉和/或触觉评估的,然后使用具有或多或少有效信号处理的传感器在剖面上测量(剖面测量),最后在部分表面上测量(地形)。三维技术不再是研究实验室的专利。原型已经成为工业设备,可以在公司或服务公司的实验室中找到。可以想象,在设备层面,下一步将是生产中表面状态的三维测量和整个表面的整体测量(宏观、微观几何,单独或整体)。
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