ZnxLaxS İnce Filmlerinin Yüzeysel Analizleri

Abstract

– Bu çalışmada çözelti yöntemine dayalı olarak üretilen ZnxLaxS (ZnLaS) ince filmlerinin yüzeyanalizleri X-ışını fotoelektron spektroskopisi XPS, atomik kuvvet mikroskobu, AFM ve taramalı elektronmikroskobu, SEM cihazları ile incelendi. XPS ölçümleri ZnLaS ince filmlerinde Zn+2, La+3 ve S-2iyonlarının varlığını ve Zn-S bağlarının oluştuğunu teyit etti. SEM analizleri ZnLaS film yüzeylerininhomojen ve yoğun olduğunu ve yüzeylerde az da olsa mikro boyutlu çatlakların olduğunu gösterdi. Aynızamanda film yüzeylerindeki parçacık boyutlarının değiştiği de SEM analizlerinden anlaşıldı. SEMcihazına bağlı enerji dağılım x-ışını spektrometresi (EDX) film örneklerinde Zn, La ve S elementlerininvarlığını tespit etti. İki ve üç boyutlu AFM görüntülerinde ZnLaS ince filmlerinin tane boyutlarının La katkımiktarına göre değiştiğini ve yüzey pürüzlülüğünün arttığı gözlemlendi. Elde edilen bu sonuçlar filmlerinoptik ve yüzeysel özelliklerinin ön plana çıktığı güneş pili ve fotokatalitik gibi uygulamalara uygunolabileceği düşünülmektedir.