Microscopie à force atomique (AFM)

Abstract

La microscopie a force atomique a connu un developpement rapide. La technologie de cette sonde locale, basee sur la mesure des forces entre un fin stylet et la surface etudiee, permet d’imager des surfaces avec une resolution, transversale et verticale, de l’ordre du nanometre. Sa facilite de mise en œuvre permet meme des controles sur des lignes de production. Cet article commence par decrire l’instrumentation et les differents modes de fonctionnement de l’AFM. Ensuite, il conduit une breve exploration des applications de la microscopie a force atomique.