Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe методом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения

{"title":"Экспрессная характеризация кристаллического совершенства структур CdхHg1-xTe\nметодом генерации на отражение второй гармоники зондирующего излучения","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-119","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при\nрегистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй\nгармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном\nвращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и\nкачественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"20 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-119","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0

Abstract

Представлены сравнительные результаты численного моделирования и эксперимента при регистрации азимутальных угловых зависимостей сигнала отраженной от структур CdхHg1-xTe второй гармоники при нормальном падении на образец зондирующего лазерного излучения и азимутальном вращении плоскости его поляризации. Оценены возможности получения количественной и качественной информации о кристаллическом совершенстве слоев CdхHg1-xTe.
晶体完美结构cdhhg1 - xtete法反映探测辐射第二谐波
数字模拟和实验显示信号的方位角依赖于cdhh1 -xTe二和弦结构,正常下降到探测激光辐射样本和极化平面的方位扭曲。cdhh1 -xTe层晶体完美的可量化的、可控的信息被评估。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
求助全文
约1分钟内获得全文 求助全文
来源期刊
自引率
0.00%
发文量
0
×
引用
GB/T 7714-2015
复制
MLA
复制
APA
复制
导出至
BibTeX EndNote RefMan NoteFirst NoteExpress
×
提示
您的信息不完整,为了账户安全,请先补充。
现在去补充
×
提示
您因"违规操作"
具体请查看互助需知
我知道了
×
提示
确定
请完成安全验证×
copy
已复制链接
快去分享给好友吧!
我知道了
右上角分享
点击右上角分享
0
联系我们:info@booksci.cn Book学术提供免费学术资源搜索服务,方便国内外学者检索中英文文献。致力于提供最便捷和优质的服务体验。 Copyright © 2023 布克学术 All rights reserved.
京ICP备2023020795号-1
ghs 京公网安备 11010802042870号
Book学术文献互助
Book学术文献互助群
群 号:481959085
Book学术官方微信