Migrated-Gold Resistive Shorts in Microcircuits

13th International Reliability Physics Symposium Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/IRPS.1975.362681

A. Shumka, Richard R. Piety

引用次数: 48

Abstract

Failures, failure modes and failure mechanisms related to the formation of migrated-gold resistive shorts (MGRS) in gold-metallized microcircuits will be described. Also, three different methods of screening devices for MGRS will be presented and the impact MGRS can have on device reliability will be discussed.

查看原文本刊更多论文

微电路中的迁移金电阻短路

本文将描述与金金属化微电路中迁移金电阻短路(MGRS)形成有关的失效、失效模式和失效机制。此外，还将介绍三种不同的MGRS筛选设备的方法，并讨论MGRS对设备可靠性的影响。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

13th International Reliability Physics Symposium

自引率

0.00%

发文量