High-value capacitance measurement based on inductive shunt

CPEM 2010 Pub Date : 2010-06-13 DOI:10.1109/CPEM.2010.5545299

Dai Dong-xue, He Xiaobing, Wang Wei

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Abstract

This paper describes a new high-value capacitance measurement method based on the inductive shunt. The method is used to measure capacitance from 10µF to lmF, frequency from 100 Hz to 1 kHz.

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介绍了一种基于电感分流的高值电容测量新方法。该方法测量电容范围为10µF至lmF，频率范围为100 Hz至1 kHz。

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CPEM 2010

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