КОСВЕННЫЙ МЕТОД ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК МЕТАЛЛОВ ПО ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОМУ ЭФФЕКТУ НА ПЛЕНКАХ СЕЛЕНА

Nanoindustry Russia Pub Date : 2023-03-31 DOI:10.22184/1993-8578.2023.16.2.124.129

Александр Валерьевич Смирнов

引用次数: 0

Abstract

Рассмотрены методики определения толщин тонких пленок металлов. Синтезированы тонкие пленки аморфного селена, серебра и слоев серебра на пленке из селена. На УФ-спектрофотометре сняты спектры оптического пропускания. Предложена методика определения толщины тонких пленок металлов по интерференционному эффекту в некотором диапазоне толщин пленок селена. Проведены соответствующие вычисления.

查看原文本刊更多论文

间接测定薄膜厚度的方法

研究了金属薄膜厚度的测定方法。合成无定形硒薄膜，硅薄膜上的银层和银层。紫外光光度计显示了光学通行证的光谱。有一种方法可以根据硒薄膜厚度范围内的干扰效应来确定薄膜厚度。已经进行了适当的计算。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

Nanoindustry Russia

自引率

0.00%

发文量