ELECTRODEPOSITION AND CHARACTERIZATION OF ZnX (X=Se, Te) SEMICONDUCTOR THIN FILMS

G. Riveros, H. Gómez, R. Henríquez, R. Sshrebler, R. Córdova, R. Marotti, E. Dalchiele
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Abstract

El presente trabajo describe la sintesis y la caracterizacion de peliculas delgadas de ZnX (X = Se y Te) obtenidas por electrodeposicion a potencial constante en medio acido. Previamente, se realizo un estudio voltametrico y fotovoltametrico sobre diferentes substratos conductores los que permitieron determinar las mejores condiciones para la electro obtencion de estos compuestos. Las peliculas delgadas de ZnSe y de ZnTe fueron analizadas por diferentes tecnicas (SEM, EDS, XRD y medidas opticas). Las peliculas de ZnTe presentaron una composicion muy cercana a la estequiometrica, en tanto que las de ZnSe presentaron un exceso de Se el cual puede ser eliminado por un adecuado tratamiento termico. La caracterizacion optica de ambos semiconductores depositados sobre titanio arrojo valores de ancho de banda prohibida de transicion directa de 2,64 eV para ZnSe y 2,27 eV para ZnTe, muy cercanos a los aceptados en bibliografia.
ZnX (X=Se, Te)半导体薄膜的电沉积与表征
本文描述了在酸性介质中恒电位电沉积得到的ZnX薄膜(X = Se和Te)的合成和表征。在此之前,对不同导电衬底进行了伏安法和光伏安法研究,以确定电获得这些化合物的最佳条件。采用不同的技术(SEM、EDS、XRD和光学测量)对ZnSe和ZnTe薄膜进行了分析。ZnTe薄膜的组成与化学计量学非常接近,而ZnSe薄膜则含有过量的Se,可以通过适当的热处理去除。两种沉积在钛上的半导体的光学表征结果表明,ZnSe的直接跃迁带宽为2.64 eV, ZnTe的直接跃迁带宽为2.27 eV,与文献中所接受的带宽非常接近。
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