Prüfgerechter Entwurf und Test hochintegrierter Schaltungen

H. Wunderlich, Mike Schulz
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Abstract

Der Beitrag gibt einen Uberblick uber die wichtigsten praxisrelevanten Teststrategien, wobei unter einer Teststrategie nicht nur die Verfahren zur Testsatzerzeugung und zur eigentlichen Testdurchfuhrung, sondern auch das zugrunde liegende Fehlermodell und die erforderlichen testfreundlichen Entwurfsmasnahmen, die die Voraussetzung fur die Anwendung dieser Verfahren darstellen, zu verstehen sind. Es werden die gangigsten Methoden zum konventionellen externen Test vorgestellt und bewertet sowie das Prinzip der immer breitere Anwendung findenden Selbsttestmethoden und ihre Vorteile erlautert. Nach einem kurzen Ausblick auf die Fortschritte, die Verfahren zur automatischen Synthese testbarer Schaltungen erhoffen lassen, werden schlieslich Aspekte des Systemtests und insbesondere das Boundary-Scan-Prinzip und die damit verbundenen Vorteile diskutiert.
设计公平,再测试高集成电路
本文有Uberblick uber主要praxisrelevanten Teststrategien中其中的一套Teststrategie Testsatzerzeugung程序和正式会议Testdurchfuhrung不仅包括基本Fehlermodell。必要testfreundlichen Entwurfsmasnahmen的适用这些程序为前提条件的,就是用.倡导和评估了常规外部测试最具坏处的方法,并支持自我测试方法的广泛使用和效益。对实现可测试本着的自动合成电路技术的进展进行了简短的展望之后,系统测试的各个方面,特别是邦达雷扫描原理及其带来的好处,将进行了讨论。
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