A comprehensive TCAM test scheme: An optimized test algorithm considering physical layout and combining scan test with at-speed BIST design

2009 International Test Conference Pub Date : 2009-12-18 DOI:10.1109/TEST.2009.5355536

Hsiang-Huang Wu, Jih-Nung Lee, Ming-Cheng Chiang, Po-Wei Liu, Chi-Feng Wu

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Abstract

Considering the physical layout, a comprehensive TCAM test scheme divides TCAM test into test for TCAM core and test for peripheral circuit. Besides, it schedules the existing test algorithms to develop an optimized test algorithm.

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