A Controlled-Temperature Device for Transistor Tests

Ire Transactions on Education Pub Date : 1961-03-01 DOI:10.1109/TE.1961.4322170

E. F. King, F. Walker

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Abstract

A laboratory device for operating transistors at selected, known temperatures in the 15-95-degrees C range is described. After a simple, one-time calibration no further temperature measurements are necessary. The unit is simple, rugged and easily constructed.

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一种用于晶体管测试的控温装置

描述了在15-95摄氏度范围内选定已知温度下操作晶体管的实验室装置。经过简单的一次性校准后，不需要进一步的温度测量。该装置简单，坚固耐用，易于构造。

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Ire Transactions on Education

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