ОЦІНЮВАННЯ НАДІЙНОСТІ ВИРОБІВ ЕЛЕКТРОННОЇ ТЕХНІКИ ЗА РІВНЕМ НИЗЬКОЧАСТОТНИХ ШУМІВ

Abstract

У статті представлено результати дослідження для розширення можливостей контролю виробів електронної техніки за рівнем низькочастотних шумів для оцінювання кількісних параметрів надійності. Це дає можливість виробникам електроніки визначати відповідні границі допустимих рівнів шуму, на основі яких можна забезпечити відповідний рівень надійності та стабільної роботи пристроїв на основі виробів електронної техніки. Досліджено нестаціонарний процес деградації внутрішньої структури виробів електронної техніки на основі інформативного параметра та випадкової похибки для визначення параметрів надійності. Виявлено, що такий процес є подібним до лінійного закону та характеризується математичним очікуванням і дисперсією. Отримано узагальнений аналітичний вираз для випадкового процесу функції надійності виробів електронної техніки, який пов’язує середньоквадратичне значення шумової напруги, границі придатності та інтервал напрацювання на відмову. Параметри функції надійності можуть бути розраховані на основі статистичної обробки результатів експериментальних досліджень. Встановлено, що рівень власних шумів з часом зростає за законом близьким до лінійного, і випадковий процес зміни інформативного параметра в часі є близьким до моделі лінійної регресії, Це також має місце і для деградації внутрішньої структури.