Minimal March tests for unlinked static faults in random access memories

23rd IEEE VLSI Test Symposium (VTS'05) Pub Date : 2005-05-01 DOI:10.1109/VTS.2005.56

Gurgen Harutunyan, V. Vardanian, Y. Zorian

引用次数: 56

Abstract

New minimal March test algorithms are proposed for detection of (all) unlinked static faults in random access memories. In particular, a new minimal March MSS test of complexity I8N is introduced detecting all realistic simple static faults, as March SS (22N), (S. Hamdioui, van de Goor, Rodgers, MTDT 2002).

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