{"title":"ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ФОРМЫ С ПОМОЩЬЮ КВАТЕРНИОННЫХ АЛГОРИТМОВ ГЕОМЕТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАНИЯ","authors":"К. В. Епифанцев","doi":"10.22184/1992-4178.2023.225.4.130.136","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Для анализа и выявления дефектов формы и снижения помех методических и систематических погрешностей оператора и внешней среды применяется алгоритм фильтрации значений измеренного сечения детали.","PeriodicalId":303934,"journal":{"name":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","volume":"115 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2023-05-03","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"ELECTRONICS: SCIENCE, TECHNOLOGY, BUSINESS","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.22184/1992-4178.2023.225.4.130.136","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Для анализа и выявления дефектов формы и снижения помех методических и систематических погрешностей оператора и внешней среды применяется алгоритм фильтрации значений измеренного сечения детали.