{"title":"Неклассические излучатели света на основе селективно-позиционированных\nгибридных микрорезонаторов и (111)In(Ga)As квантовых точек","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-71","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"В работе представлены результаты исследования оптических характеристик неклассических\nисточников света, на основе селективно – позиционированных микролинзовых структур и одиночных\nIn(Ga)As квантовых точек, выращенных на подложке (111)B GaAs. Однофотонный характер\nизлучения подтвержден измерением и анализом корреляционной функции второго порядка g\n(2)(τ),\ng\n(2)(0)=0.07.\nВ данной работе реализован микрорезонатор на\nоснове полупроводникового брэгговского отражателя и\nмикролинзы, селективно позиционированной над\nодиночной (111) In(Ga)As квантовой точкой (КТ).\nКонструкция микрорезонатора обеспечивает\nэффективную накачку квантовых точек и высокую\nвнешнюю квантовую эффективность вывода излучения.\nМикролинзы диаметром ~2 мкм и высотой ~0.4 мкм\nформировались с использованием методов электронной\nлитографии и плазмо-химического травления\nнепосредственно над одиночными КТ, координаты\nкоторых определялись ранее с использованием методики\nкатодолюминесценции. Селективное позиционирование\nвыходной апертуры микрорезонатора (микролинзы)\nстрого над выбранной одиночной КТ обеспечивает\nуверенную регистрацию излучения КТ.\nНа рис. 1a представлен спектр излучения одиночной\nInGaAs КТ, расположенной в микрорезонаторе,\nсодержащий экситонный и биэкситонный пики.\nСтатистика излучения анализировалась с использованием\nинтерферометра Хэнбери Брауна–Твисса.\nКорреляционная функция второго порядка для\nэкситонной линии одиночной InGaAs КТ, находящейся в\nмикрорезонаторе, представлена на рис. 2b. Измеренное\nзначение корреляционной функции второго порядка при\nнулевой временной задержке составляет g\n(2)(0)=0.07, что\nдемонстрирует ярко выраженный однофотонный\nхарактер излучения и перспективность использования\nданного типа микрорезонаторов для разработки неклассических излучателей на основе\nполупроводниковых квантовых точек.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"32 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-71","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
В работе представлены результаты исследования оптических характеристик неклассических
источников света, на основе селективно – позиционированных микролинзовых структур и одиночных
In(Ga)As квантовых точек, выращенных на подложке (111)B GaAs. Однофотонный характер
излучения подтвержден измерением и анализом корреляционной функции второго порядка g
(2)(τ),
g
(2)(0)=0.07.
В данной работе реализован микрорезонатор на
основе полупроводникового брэгговского отражателя и
микролинзы, селективно позиционированной над
одиночной (111) In(Ga)As квантовой точкой (КТ).
Конструкция микрорезонатора обеспечивает
эффективную накачку квантовых точек и высокую
внешнюю квантовую эффективность вывода излучения.
Микролинзы диаметром ~2 мкм и высотой ~0.4 мкм
формировались с использованием методов электронной
литографии и плазмо-химического травления
непосредственно над одиночными КТ, координаты
которых определялись ранее с использованием методики
катодолюминесценции. Селективное позиционирование
выходной апертуры микрорезонатора (микролинзы)
строго над выбранной одиночной КТ обеспечивает
уверенную регистрацию излучения КТ.
На рис. 1a представлен спектр излучения одиночной
InGaAs КТ, расположенной в микрорезонаторе,
содержащий экситонный и биэкситонный пики.
Статистика излучения анализировалась с использованием
интерферометра Хэнбери Брауна–Твисса.
Корреляционная функция второго порядка для
экситонной линии одиночной InGaAs КТ, находящейся в
микрорезонаторе, представлена на рис. 2b. Измеренное
значение корреляционной функции второго порядка при
нулевой временной задержке составляет g
(2)(0)=0.07, что
демонстрирует ярко выраженный однофотонный
характер излучения и перспективность использования
данного типа микрорезонаторов для разработки неклассических излучателей на основе
полупроводниковых квантовых точек.