Imagerie par spectrométrie de masse TOF-SIMS pour l’analyse de tableaux anciens

Abstract

L’imagerie par spectrometrie de masse d’ions secondaires TOF-SIMS est une technique d’analyse de surface et de volume qui permet de localiser et identifier la composition chimique d’un echantillon sur une epaisseur de plusieurs microns. Elle donne acces aux composes organiques par la detection d’ions moleculaires et de fragments, et a la composition minerale, et n’est pas destructive. C’est donc une technique qui est de plus en plus utilisee pour l’analyse de prelevements de tableaux, en particulier des tableaux anciens. Cet article presentera, dans une premiere partie, les methodes de l’analyse TOF-SIMS et, dans une seconde partie, trois exemples d’analyses de tableaux anciens.