PIN diode limiter spike leakage, recovery time, and damage

1988., IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest Pub Date : 1988-05-25 DOI:10.1109/MWSYM.1988.22029

R. Tan, A. Ward, R. Garver, H. Brisker

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Abstract

A predominantly experimental study was performed on p-i-n diode limiter spike leakage, and some preliminary recovery time and damage level results are discussed. Dependencies on the thickness of the intrinsic region (0.5 to 10 mu m) and input power at X-band are given.<>

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1988., IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

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