Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V

João Fabrício Filho, Isaias B. Felzmann, Lucas F. Wanner
{"title":"Sensibilidade a erros em aplicações na arquitetura RISC-V","authors":"João Fabrício Filho, Isaias B. Felzmann, Lucas F. Wanner","doi":"10.5753/eradsp.2020.16886","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Arquiteturas que implementam o conjunto de instruções RISC-V são adequadas para o contexto de sistemas embarcados. A demanda por menor consumo energético e maior desempenho nesse contexto é crescente, e a aproximação de elementos de memória tem potencial para alcançar ambos os benefícios. Contudo, a sensibilidade a erros de cada aplicação pode impedir a obtenção de maiores benefícios, por meio de quebras de execução ou menor qualidade dos resultados. Neste trabalho, propomos a avaliação da sensibilidade de aplicações a falhas em dados armazenados em memória na arquitetura RISC-V. Expondo toda a memória de dados a um modelo de erro em um simulador, é possível verificar a correlação entre o aumento das quebras de execução e a diminuição da qualidade dos resultados. Para um requisito de qualidade de 90%, as 3 aplicações avaliadas toleraram diferentes níveis de aproximação em escala logarítmica, chegando na ordem da taxa de erro de 10^-7.","PeriodicalId":137925,"journal":{"name":"Anais da XI Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo (ERAD-SP 2020)","volume":"1 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2020-08-19","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Anais da XI Escola Regional de Alto Desempenho de São Paulo (ERAD-SP 2020)","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.5753/eradsp.2020.16886","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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Abstract

Arquiteturas que implementam o conjunto de instruções RISC-V são adequadas para o contexto de sistemas embarcados. A demanda por menor consumo energético e maior desempenho nesse contexto é crescente, e a aproximação de elementos de memória tem potencial para alcançar ambos os benefícios. Contudo, a sensibilidade a erros de cada aplicação pode impedir a obtenção de maiores benefícios, por meio de quebras de execução ou menor qualidade dos resultados. Neste trabalho, propomos a avaliação da sensibilidade de aplicações a falhas em dados armazenados em memória na arquitetura RISC-V. Expondo toda a memória de dados a um modelo de erro em um simulador, é possível verificar a correlação entre o aumento das quebras de execução e a diminuição da qualidade dos resultados. Para um requisito de qualidade de 90%, as 3 aplicações avaliadas toleraram diferentes níveis de aproximação em escala logarítmica, chegando na ordem da taxa de erro de 10^-7.
RISC-V体系结构中的错误敏感性
实现RISC-V指令集的体系结构适合于嵌入式系统的上下文。在这种情况下,对更低能耗和更高性能的需求正在增长,而内存元素方法有潜力实现这两种好处。然而,每个应用程序对错误的敏感性可能会阻止通过中断执行或降低结果质量获得更大的好处。在这项工作中,我们提出在RISC-V体系结构中评估应用程序对存储在内存中的数据故障的敏感性。将所有数据内存暴露在模拟器中的错误模型中,可以验证执行中断的增加和结果质量的降低之间的相关性。对于90%的质量要求,3个被评估的应用程序在对数尺度上容忍不同的近似水平,达到错误率10^-7的顺序。
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