{"title":"Спектральные и фотоэлектрические характеристики гидрохимически осажденных\nпленок твердых растворов замещения CdxPb1−xS","authors":"","doi":"10.34077/rcsp2019-51","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"Химически осажденные пленки твердых растворов (ТРЗ) различного состава CdxPb1xS являются\nфоточувствительными в видимой и ближней ИК-области спектра. После извлечения из реакционной\nсмеси они не требуют сенсибилизации и готовы к практическому использованию.\nДиапазон спектральной чувствительности ТРЗ CdxPb1xS зависит от содержания в них кадмия. На\nспектральных характеристиках пленок CdxPb1xS при повышении содержания сульфида кадмия в ТРЗ\nот 0 до 17 мол.% “красная” граница фоточувствительности сдвигается в коротковолновую область с\n3.1. до 1.6 мкм, а максимум фоточувствительности с 2.5 до 1.2 мкм.\nСостав ТРЗ можно менять не только за счет изменения концентрации соли кадмия в реакторе, но и\nпутем использования солей кадмия с различной анионной компонентой, а также, учитывая\nнеоднородность состава по толщине пленки, регулированием времени осаждения слоя. При замене\n0.06 моль/л CdSО4 в реакторе таким же количеством CdI2 при прочих равных условиях содержание\nCdS в ТРЗ уменьшается с 11.1 до 5 мол.%. Поэтому максимум спектральной чувствительности\nсдвигается с 1.90 мкм до 1.45 мкм. Для пленок толщиной .3-1.0 мкм спектральная характеристика\nимеет выраженный максимум на длине волны 0.5 мкм, соответствующий фоточувствительности\nиндивидуального CdS, с которой при этих условиях начинается формирование пленки ТРЗ. С\nувеличением толщины пленки происходит постепенный сдвиг спектральной кривой в\nдлинноволновый диапазон вследствие уменьшения в составе ТРЗ мольной доли кадмия.\nВозможность формирования пленок CdxPb1xS различного состава обеспечивает получение\nматериалов с регулируемым положением максимума и “красной” границы спектральной\nхарактеристики во всем ближнем ИК-диапазоне. Особый интерес представляет ТРЗ Cd0.06Pb0.94S,\nимеющий эту характеристику практически аналогичную с германием, однако, обладающий более\nвысоким темновым сопротивлением, обеспечивая согласование в микроэлектронных схемах.\nПленка PbS без сенсибилизирующих добавок\nи проведения отжига, практически не обладает\nфоточувствительными свойствами. Введение в\nреактор соли кадмия сенсибилизирует пленку\nPbS. При переходе от индивидуального PbS к\nТРЗ CdxPb1xS тип проводимости изменяется от\n“n” к “p”, а концентрация носителей снижается\nна 3-5 порядков. С увеличением содержания\nкадмия в ТРЗ уровень вольт-ваттной\nчувствительности пленок возрастает, достигая\nнаибольших значений вблизи области\nмаксимума на рис. Причиной этого могут\nявляться хаотически распределенные\nинверсионные “пятна” CdS на гранях\nкристаллитов CdxPb1xS, имеющие\nадсорбционную природу.\nВольт-ваттная чувствительность пленок\nнаходится в пределах (0.5-1.0)∙103 В/Вт при\nиспользовании соли CdI2, возрастая до (1.0-\n2.0)∙104 В/Вт для тех же концентраций Cd(CH3COO)2. при относительно малых значениях времени\nфотоотклика (30-120 мкс). По вольт-ваттной чувствительности и постоянной времени пленки ТРЗ\nCdxPb1xS в ближней ИК-области спектра не имеют аналогов, и могут найти применение в\nоптоэлектронных устройствах.","PeriodicalId":118786,"journal":{"name":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","volume":"4 1","pages":"0"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2019-05-24","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"0","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Тезисы докладов Российской конференции и школы молодых ученых по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники «ФОТОНИКА-2019»","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.34077/rcsp2019-51","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
引用次数: 0
Abstract
Химически осажденные пленки твердых растворов (ТРЗ) различного состава CdxPb1xS являются
фоточувствительными в видимой и ближней ИК-области спектра. После извлечения из реакционной
смеси они не требуют сенсибилизации и готовы к практическому использованию.
Диапазон спектральной чувствительности ТРЗ CdxPb1xS зависит от содержания в них кадмия. На
спектральных характеристиках пленок CdxPb1xS при повышении содержания сульфида кадмия в ТРЗ
от 0 до 17 мол.% “красная” граница фоточувствительности сдвигается в коротковолновую область с
3.1. до 1.6 мкм, а максимум фоточувствительности с 2.5 до 1.2 мкм.
Состав ТРЗ можно менять не только за счет изменения концентрации соли кадмия в реакторе, но и
путем использования солей кадмия с различной анионной компонентой, а также, учитывая
неоднородность состава по толщине пленки, регулированием времени осаждения слоя. При замене
0.06 моль/л CdSО4 в реакторе таким же количеством CdI2 при прочих равных условиях содержание
CdS в ТРЗ уменьшается с 11.1 до 5 мол.%. Поэтому максимум спектральной чувствительности
сдвигается с 1.90 мкм до 1.45 мкм. Для пленок толщиной .3-1.0 мкм спектральная характеристика
имеет выраженный максимум на длине волны 0.5 мкм, соответствующий фоточувствительности
индивидуального CdS, с которой при этих условиях начинается формирование пленки ТРЗ. С
увеличением толщины пленки происходит постепенный сдвиг спектральной кривой в
длинноволновый диапазон вследствие уменьшения в составе ТРЗ мольной доли кадмия.
Возможность формирования пленок CdxPb1xS различного состава обеспечивает получение
материалов с регулируемым положением максимума и “красной” границы спектральной
характеристики во всем ближнем ИК-диапазоне. Особый интерес представляет ТРЗ Cd0.06Pb0.94S,
имеющий эту характеристику практически аналогичную с германием, однако, обладающий более
высоким темновым сопротивлением, обеспечивая согласование в микроэлектронных схемах.
Пленка PbS без сенсибилизирующих добавок
и проведения отжига, практически не обладает
фоточувствительными свойствами. Введение в
реактор соли кадмия сенсибилизирует пленку
PbS. При переходе от индивидуального PbS к
ТРЗ CdxPb1xS тип проводимости изменяется от
“n” к “p”, а концентрация носителей снижается
на 3-5 порядков. С увеличением содержания
кадмия в ТРЗ уровень вольт-ваттной
чувствительности пленок возрастает, достигая
наибольших значений вблизи области
максимума на рис. Причиной этого могут
являться хаотически распределенные
инверсионные “пятна” CdS на гранях
кристаллитов CdxPb1xS, имеющие
адсорбционную природу.
Вольт-ваттная чувствительность пленок
находится в пределах (0.5-1.0)∙103 В/Вт при
использовании соли CdI2, возрастая до (1.0-
2.0)∙104 В/Вт для тех же концентраций Cd(CH3COO)2. при относительно малых значениях времени
фотоотклика (30-120 мкс). По вольт-ваттной чувствительности и постоянной времени пленки ТРЗ
CdxPb1xS в ближней ИК-области спектра не имеют аналогов, и могут найти применение в
оптоэлектронных устройствах.