Experimental Assessment of Bilateral Fin-Line Impedance for Device Matching

1981 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest Pub Date : 1981-06-15 DOI:10.1109/MWSYM.1981.1129836

H. A. Willing, B. Spielman

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Abstract

This paper describes the results of an experimental investigation of bilateral fin-line impedance characteristics for matching to small-chip devices. The results from two different experimental approaches are presented and compared with computed results.

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1981 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest

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