Measurements and modelling of free carrier lifetimes in Si and Si/poly-Si microrings

2023 IEEE Silicon Photonics Conference (SiPhotonics) Pub Date : 2023-04-01 DOI:10.1109/SiPhotonics55903.2023.10141966

M. Novarese, S. Romero-García, J. Bovington, M. Gioannini

引用次数: 0

Abstract

We report pump-probe experiments for measuring free carrier lifetime in Si and Si/poly-Si microrings and compare results with trap-assisted Shockley-Read-Hall recombination model.

查看原文本刊更多论文

硅和硅/多晶硅微环中自由载流子寿命的测量和建模

我们报道了用于测量Si和Si/多晶硅微环中自由载流子寿命的泵浦探针实验，并将结果与陷阱辅助的Shockley-Read-Hall重组模型进行了比较。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

2023 IEEE Silicon Photonics Conference (SiPhotonics)

自引率

0.00%

发文量